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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
GUT6000A數(shù)字IC測(cè)試儀,自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能,54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ,4000 及 4500 系列 CMOS
GUT-6000A是一款臺(tái)式IC測(cè)試儀。鑒于使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化，GUT-6000A包含自動(dòng)搜索功能和回圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。并提供智能化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000A更接近零維護(hù)，減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件大1800多種常見(jiàn)的TTL和COMS器件，真正在數(shù)字IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。
循環(huán)測(cè)試
自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能
開(kāi)機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
過(guò)載保護(hù)功能
可測(cè)量的IC 種類(lèi)超過(guò) 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
測(cè)試針腳: 28 Pin
| 測(cè)試范圍 | |
| 54/74 系列 TTL | |
| 4000 及 4500 系列 CMOS | |
| 測(cè)量種類(lèi) | |
| 約 1800 種 | |
| 測(cè)試電壓 | |
| 5V DC | |
| 測(cè)試時(shí)間 | |
| 高測(cè)試速度，平均 0.8 秒可完成一個(gè) IC | |
| 電源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | |
| 尺寸&重量 | |
| 335（寬） x 105（高） x 300（長(zhǎng)） mm 約 1.5 公斤 | |
GLP-1A | 邏輯測(cè)試棒附脈沖發(fā)生器 | 350.00 |
GPG-2A | 脈沖發(fā)生器測(cè)試棒 | 300.00 |
GUT-6600 | 便攜型數(shù)字IC測(cè)試儀,54/74TTL系高速CMOS,4000/4500系CMOS | 3000.00 |
GUT-6001C | 便攜型EPROM 寫(xiě)入器 | 3600.00 |
GUT-6000A | 數(shù)字IC測(cè)試器，54/74TTL系及高速CMOS，4000及4500系CMOS | 10300.00 |
GUT-7000 | 模擬IC測(cè)試器 | 38000.00 |
銷(xiāo)售：