目錄:先鋒科技（香港）股份有限公司>>激光與量測>>動態(tài)干涉儀>> 動態(tài)干涉儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
有別于基于傳統(tǒng) Fizeau 干涉儀的方法，采用位相檢測方法直接構(gòu)建的動態(tài)干涉儀既不需要移動待測元件多次曝光，也不需要采用偏振等復(fù)雜的光學(xué)手段，針對待測元件進(jìn)行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差；Kaleo-Multiwave 多色動態(tài)干涉儀可用于光學(xué)元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)測試及實(shí)時調(diào)整等。大動態(tài)范圍像差測試能力使其可測平面 / 球面波而無需中繼鏡，無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進(jìn)行測試。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準(zhǔn)直光源，可以對大口徑鏡片進(jìn)行直接或?qū)Ρ葴y量。
• 紫外、可見、近紅外、短波紅外、中遠(yuǎn)紅外等多個波長可訂制
• 納米級位相分辨率
• 超高動態(tài)范圍，>600 條紋數(shù)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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