目錄:先鋒科技(香港)股份有限公司>>影像采集>>X-ray CCD相機(jī)>> 勞厄單晶取向測(cè)試系統(tǒng)
參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間:2025-01-21 11:35:29瀏覽次數(shù):2265評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
勞厄單晶取向測(cè)試系統(tǒng):
水平放置系統(tǒng)
特征 | 優(yōu)點(diǎn) |
<200um 光束尺寸 | 可測(cè)量小 晶體 |
電動(dòng)位移臺(tái) | 可沿生長(zhǎng)軸軸向掃描 |
電動(dòng)角位移 | 與同步加速器/中子設(shè)備直接兼容 |
手動(dòng)角位移 | 與切割刀具直接兼容 |
垂直放置系統(tǒng)
特征 | 優(yōu)點(diǎn) |
<200um 光斑 | 適用于小晶粒的多晶結(jié)構(gòu) |
大范圍電動(dòng)線性掃描位移臺(tái) | 允許自動(dòng)晶圓mapping或多個(gè)樣品 |
電動(dòng)Z 軸驅(qū)動(dòng) | 適用大尺寸晶棒或樣品 |
手動(dòng)角位移 | 允許定位到+/- 0.02度精度 |
配備PSEL CCD 背反射勞厄X-RAY 探測(cè)器:
勞厄影像校準(zhǔn)軟件:
系統(tǒng)附件包括:
典型勞厄衍射應(yīng)用圖樣:
勞厄單晶取向測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用方向:
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)