目錄:先鋒科技（香港）股份有限公司>>光學器件/探測器>>面陣探測器>> HR-25-X-RayX射線探測器
X射線探測器 的詳細介紹
高耦合效率，降低設備X光源的投入
影像不失真，讓系統(tǒng)軟件變得更簡單
采用光纖錐耦合的，zui大限度的提高了光通量，用1：1的光纖面板，耦合效率可達到70%，大大提高了相機的探測能力。圖像不失真，不需要對影像進行較正，可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡單。
此相機廣泛的應用于工業(yè)無損檢測，如鑄件和焊接檢測、PCB板檢測、工業(yè)CT等。
BGA檢查 IC焊腳檢查 二管質量檢查 金線檢查
產(chǎn)品規(guī)格：
標準產(chǎn)品有以下三個型號，根據(jù)X光源不同，要求分辨率以及目標物的厚度不同，有可能需要改變熒光屏材料和厚度。我們向您提供*的解決方案。
產(chǎn)品型號 | HR-25-X-Ray | HR-40-X-Ray | HR-75-X-Ray |
CCD芯片 | 2/3’’芯片，752*582 | 2/3’’芯片，1392*1040 | 1.2’’芯片，2048*2048 |
像素尺寸 | 11.6um*11.2um | 6.45um*6.45um | 7.4um*7.4um |
輸出格式 | 標準CCIR模擬型號輸出 | 8bit或12bit數(shù)字信號輸出 | 8bit或12bit數(shù)字信號輸出 |
幀速 | 視頻速度 | 17幀或30幀 | 15幀 |
計算機接口 | 無 | 1394或以太網(wǎng)接口 | 以太網(wǎng)接口 |
視場 | 20mm*15mm（其它可選） | 32mm*24mm（其它可選） | 45um*45um |
熒光屏鍍膜 | P43（其它可選） | P43（其它可選） | P43（其它可選） |
X光響應范圍 | 20kev-100kev | 20kev-100kev | 20kev-100kev |
入射光窗 | 0.5mm厚鋁膜（其它可選） | 0.5mm厚鋁膜（其它可選） | 0.5mm厚鋁膜（其它可選） |
分辨率 | 50um | ≤50um，10lp/mm | ≤50um,11 lp/mm |
HR-75-X-Ray
400萬像素高分辨率；選用75:25的光纖錐耦合，視野可達到45mm X 45mm.
HR-40-X-Ray
140萬像素高分辨率；選用40:11的光纖錐耦合，視野可達到32mm X 24mm.
HR-25-X-Ray
體積小巧，直徑僅55mm,長68mm,易于安裝；分辨率高；動態(tài)范圍好。
量子效率曲線圖
（P43熒光屏（25mg/cm2）, 厚度：55um）
定制產(chǎn)品：
我們可根據(jù)客戶的需求定制X-Ray相機
應用領域
醫(yī)學成像設備：
工業(yè)檢測設備：
安防設備：
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