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專為紫外輻射照度測試而設(shè)計(jì)。較好紫外測量技術(shù)，克服長期以來國內(nèi)紫外測量技術(shù)誤差大，復(fù)現(xiàn)性差，探測器長期衰減大等缺點(diǎn)，具備靈敏度高，余弦修正好，長期穩(wěn)定性高，精度好等優(yōu)點(diǎn)，滿足各項(xiàng)和國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
多波段紫外輻照度計(jì)
專為紫外輻射照度測試而設(shè)計(jì)。較好紫外測量技術(shù)，克服長期以來國內(nèi)紫外測量技術(shù)誤差大，復(fù)現(xiàn)性差，探測器長期衰減大等缺點(diǎn)，具備靈敏度高，余弦修正好，長期穩(wěn)定性高，精度好等優(yōu)點(diǎn)，滿足各項(xiàng)和國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)。
多波段紫外輻照度計(jì) 主要特點(diǎn)
已被廣泛應(yīng)用于紫外光源、印刷、醫(yī)療、衛(wèi)生、生物生長、驗(yàn)鈔、消毒殺菌等行業(yè)。用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇不同波段探測器，從而實(shí)現(xiàn)不同測試要求。*靈敏度UV探頭可為客戶訂制。
技術(shù)指標(biāo)
測量范圍寬 0.01～1.9999×105μW/C㎡ or mW/㎡
測量精度 ±5%
CIE UVA 315nm～400nm
CIE UVB 280nm～315nm
CIE UVC 220nm～280nm
CIE UVBC 185nm～315nm
CIE UVBC1 160nm～315nm
UVAO 375nm～475nm
UV365 λp=365nm
UV310 λp=310nm
UV297 λp=297nm
UV254 λp=254nm