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北京卓川電子科技有限公司>>物理無(wú)損檢測(cè)設(shè)備>>觀測(cè)儀>> SY.29-WDI硅片缺陷觀測(cè)儀/太陽(yáng)能研究用數(shù)碼金相顯微鏡（不含偏光+單色+微分）

硅片缺陷觀測(cè)儀/太陽(yáng)能研究用數(shù)碼金相顯微鏡（不含偏光+單色+微分）

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  • 型號(hào) SY.29-WDI
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  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時(shí)間：2016-02-04 11:27:19瀏覽次數(shù)：983

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硅片缺陷觀測(cè)儀/太陽(yáng)能研究用數(shù)碼金相顯微鏡（不含偏光+單色+微分） 實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；

詳細(xì)介紹

硅片缺陷觀測(cè)儀/太陽(yáng)能研究用數(shù)碼金相顯微鏡（不含偏光+單色+微分） 概述：

硅片缺陷觀測(cè)儀/太陽(yáng)能研究用數(shù)碼金相顯微鏡（不含偏光+單色+微分） 于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。

實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；

特點(diǎn)：

■ 適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等；

■ 使硅片缺陷觀察工作簡(jiǎn)單化，準(zhǔn)確化，同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度；

■ 實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；

■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)較好，像素較高， 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富；

■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計(jì) ；

■ 有效分辨率為 200 萬(wàn)像素；

■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。

 

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