。您只需按一下測(cè)量頭，就可以開(kāi)始測(cè)量，并且測(cè)量的結(jié)果可以立即在iCPlateⅡ液晶顯示屏上看到，通過(guò)iCPlateⅡ您甚至能將網(wǎng)點(diǎn)放大，檢查其形狀，從而看到印版是否有擦痕。由于iCPlateⅡ使用了低功耗的液晶屏，您可以測(cè)量30,000次以上而不必更換電池。iCPlateⅡ系列產(chǎn)品組合有四種供您選擇：
iCPlateⅡBasic iCPlateⅡBasic+PQS
iCPlateⅡAdvanced iCPlateⅡAdvanced+PQS
(注：PQS為可選配品控軟件)
iCPlateⅡBasic為印版測(cè)試系統(tǒng)的基本款儀器，它可以測(cè)量網(wǎng)點(diǎn)百分比、通過(guò)測(cè)量做可視分析，適用于印版網(wǎng)點(diǎn)及調(diào)幅網(wǎng)點(diǎn)的樣品測(cè)量。
iCPlateⅡAdvanced是目前為止功能zui多、適用范圍zui廣的印版測(cè)量?jī)x，從CTP版材到傳統(tǒng)印版都可以，通過(guò)其環(huán)形照明和三種不同的燈泡，既能測(cè)量陰圖版和陽(yáng)圖版，也能測(cè)調(diào)頻或調(diào)幅網(wǎng)點(diǎn)。它可以再現(xiàn)網(wǎng)點(diǎn)直徑、網(wǎng)線數(shù)、網(wǎng)角、印版特性、樣本數(shù)據(jù)、視覺(jué)密度,并可利用軟件將此信息傳入電腦。
TabwizardⅡ品控軟件和TargetⅡ標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試軟件是iCPlateⅡAdvanced和iCPlateⅡBasic均包含的兩款軟件，您也可以選配PQS品控軟件配合iCPlateⅡ使用。

能比較
iCPlate2 X
iCPlate2 XT
PlateScope
主要功能
簡(jiǎn)單的印版測(cè)量、檢查
常規(guī)的工作管理和印版測(cè)量、檢查
日常工藝控制、嚴(yán)格的工作管理和印版測(cè)量、檢查
精確度
普通模式可精確測(cè)量所有支持的
印版類型
 
普通模式可精確測(cè)量所有支持的
印版類型
普通模式可精確測(cè)量所有支持的印版類型，
包括用于特殊用途的高精度測(cè)量的特定的
印版圖表
重復(fù)性
高重復(fù)性
高重復(fù)性
zui高重復(fù)性能
標(biāo)準(zhǔn)印版支持
支持大多數(shù)常用的印版類型
 
支持大多數(shù)常用的印版類型
支持大多數(shù)常用的印版類型
免沖洗印版支持
如果使用特殊的清洗液，支持高反
差免沖洗印版，如AGFA  Azura
和Fuji Pro-T低延時(shí)印版
如果使用特殊的清洗液，支持高反
差免沖洗印版，如AGFA  Azura
和Fuji Pro-T低延時(shí)印版
支持高反差免沖洗印版，如AGFA  Azura
和Fuji Pro-T低延時(shí)印版
易于使用
易于定位、高度可視目標(biāo)
易于定位、高度可視目標(biāo)
容易定位 – 創(chuàng)新的視頻目標(biāo)定位系統(tǒng)可以
在一臂之遙或光線昏暗的條件下定位
連接
串行連接到計(jì)算機(jī)的COM端口上
串行連接到計(jì)算機(jī)的COM端口上
USB
軟件
包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選）
包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選）
包括Capture Tool和PlateQuality 2.0