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當前位置:北京恒奧德儀器儀表有限公司>>分析儀器>>發(fā)生器>> ZDK-AV5271分析儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號ZDK-AV5271
品 牌恒奧德
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時間:2024-04-11 21:47:04瀏覽次數(shù):1604次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)分析儀型號:ZDK-AV5271
ZDK-AV5271型ATM分析儀為便攜式模塊化結(jié)構(gòu),具有雙路E1、E3、STM-1電或STM-1光等物理接口,可行ATM業(yè)務仿真、網(wǎng)絡損傷仿真、GCRA業(yè)務整形與測試、O.191 QoS測試、信元過濾與捕獲、UNI/NNI協(xié)議解碼以及面的物理層誤碼和告警測試。可應用于ATM設備的研制以及ATM網(wǎng)絡的建設、開通和維護。
主要點
o 雙端口,模塊化結(jié)構(gòu)
o 面的物理層誤碼和告警插入/測試
o 多種業(yè)務分布模型以及優(yōu)控制、GCRA整形
o 每端口可同時測試 2046個通道
o 4種網(wǎng)絡損傷仿真
o 測試能面:包括發(fā)生器統(tǒng)計、GCRA測試、O.191 QoS測試、信元統(tǒng)計、信元捕獲與協(xié)議解碼等
主要能與標
?。?) 雙 E1、E3、STM-1電或STM-1光收/發(fā)接口,符合ITU-T G.703標準
?。?) 碼型: AMI、HDB3、CMI、NRZ(光口)
?。?) 支持的幀結(jié)構(gòu): G.704 E1 幀(PCM30、PCM30+CRC、PCM31、PCM31+CRC)、E1 PLCP 幀、G.751 E3 幀、G.832 E3 幀、E3 PLCP 幀、G.708 STM-1 幀
?。?) 誤碼產(chǎn)生和測試:編碼誤碼、幀誤碼、PLCP 幀誤碼、PLCP BIP 誤碼、PLCP FEBE 誤碼、B1、B2、B3、MS-REI、HP-REI、HP-IEC
?。?) 告警插入和測試: LOS、LOF、AIS、RAI、PLCP YELLOW、PLCP LOF、PLCP OOF、MS-AIS、MS-RDI、AU-LOP、AU-AIS、HP-RDI
?。?) 具有 STM-1 針產(chǎn)生和測試能
(7) 可產(chǎn)生適配層為 AAL1、AAL2、AAL3/4、AAL5及RM、OAM 和O.191等信元
?。?) 具有多種業(yè)務分布模型和優(yōu)控制
?。?) 按照 GCRA 算法對業(yè)務行單/雙漏桶整形和測試分析
?。?0) 能自動識別zui多 2046 個測試通道
(11) 子業(yè)務 QoS 測量,每個通道可同時分析zui多達 2046 個子業(yè)務,包括實時業(yè)務統(tǒng)計、信元丟失計數(shù)、信元丟失率、信元誤插計數(shù)、信元誤插率、錯誤信元計數(shù)、錯誤信元率、信元計數(shù)、信元傳遞延遲和信元延遲變化等
(12) 多種信元過濾和捕獲能,可按 線路速率捕獲多達1百個信元
(13) 信元統(tǒng)計、AAL5包統(tǒng)計
?。?4) 網(wǎng)絡損傷仿真能,能行 信元錯誤、信元丟失、信元延遲和信元延遲變化的損傷插入
?。?5) 可行ATM層及UNI、NNI等協(xié)議解碼 , 解碼符合ATM Forum UNI3.0、UNI3.1、UNI4.0 ,ITU-T Q.2931、Q.2110、Q.2130、Q.2140、Q.2764等標準
2.
![]() | 產(chǎn)品名稱:差壓示器 產(chǎn)品型號:SWP-CY100 |
差壓示器 型號;SWP-CY100
主要點:殼體采用錳鋼,作壓力 6.5MPa,zui大針值可手動 調(diào)整零位,過程連接螺絲 G ",不需計量標定
用途:般用于示過濾器、分離器、 閥門、泵等設備輸入、輸出 兩端壓力差異
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