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邁可諾技術(shù)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美國(guó)Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
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2020-11-13 閱讀(1639)
鈣鈦礦廣泛用于太陽能電池的開發(fā)。由于這些類型的太陽能電池具有良好的光伏性能，因此對(duì)它們進(jìn)行了系統(tǒng)的研究。鈣鈦礦薄膜的厚度和形態(tài)是影響太陽能電池性能的重要因素。人們發(fā)現(xiàn)，特別當(dāng)鈣鈦礦的厚度小于400nm時(shí)，鈣鈦礦太陽能電池的效率很大程度上取決于薄膜厚度；而當(dāng)鈣鈦礦的厚度大于400nm時(shí)，效率則很大程度上取決于鈣鈦礦層的薄膜形態(tài)。在本篇方案說明中，我們使用FR-pRo VIS/NIR測(cè)量鈣鈦礦薄膜的厚度。
FR-pRo VIS/NIR
測(cè)量方法：用于表征的樣品是兩種不同厚度的CH3NH3PbBr3鈣鈦礦薄膜，它們位于標(biāo)準(zhǔn)ITO/SiO2/Soda-lime基底上，如圖1所示。使用ThetaMetrisis FR-pRo VIS/NIR進(jìn)行反射測(cè)量，在350-1020nm的光譜范圍內(nèi)操作。
結(jié)果：兩種樣品的典型獲得的反射光譜（黑線）和擬合的反射光譜（紅線），如FR監(jiān)控軟件所示，分別在圖2a 和 圖2b中所示。兩種測(cè)量方法的擬合在500-750nm光譜范圍內(nèi)進(jìn)行，樣品1中鈣鈦礦薄膜的厚度在516.9nm處測(cè)量，而樣品2中的厚度在394.4nm處測(cè)量。
圖2a：樣品1的實(shí)驗(yàn)和擬合反射光譜，在515nm處測(cè)得的厚度。
圖2b：樣品2的實(shí)驗(yàn)和擬合反射光譜，在392nm處測(cè)得的厚度。
膜厚儀操作便捷，分析結(jié)果快速準(zhǔn)確，多款型號(hào)，可滿足廣泛的應(yīng)用范圍，后期我們將持續(xù)為您推送更多實(shí)際應(yīng)用案例，希望幫助您達(dá)到實(shí)驗(yàn)結(jié)果Z 優(yōu)化。
