目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>光學精密儀器>>等離子物理>> FPPLA-EMICON-MC等離子體監(jiān)控系統(tǒng)
應用領域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
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等離子體監(jiān)控系統(tǒng)采用等離子體光譜儀器制造離子體監(jiān)測系統(tǒng),適用于等離子體技術的幾乎任何應用,包括等離子體分析、等離子體監(jiān)測和工藝you化。滿足生產線等離子體工藝的整體過程控制和質量保證。
等離子體監(jiān)控系統(tǒng)特點
廣泛的測量數(shù)據(jù)采集
等離子體發(fā)射模塊與光纖光譜儀一起工作以高速連續(xù)采集從UV到NIR的等離子體光發(fā)射的光譜。這個HIPIMS/Pulse模塊允許對MHz范圍內的電壓信號和層進行觸發(fā)采樣控制模塊獲取生長薄膜的反射光譜和/或透射光譜。此外,信號輔助傳感器可以通過模擬電壓輸入輸入。
實時監(jiān)控等離子體過程參數(shù)
從所獲取的發(fā)射數(shù)據(jù)中,可以選擇任意數(shù)量的等離子體線,持續(xù)監(jiān)控等離子體條件和成分。HIPIMS/Pulse模塊提供電壓以及來自脈沖切片的電流值,例如HIPIMS過程的峰值電流。這個層控制模塊基于寬帶光譜擬合來計算膜厚度,或者相對于標準顏色空間的顏色值。從模塊獲取的所有數(shù)據(jù)實時導出,并且可以作為時間的函數(shù)顯示為所謂的監(jiān)視器軌跡從而實時提供過程狀態(tài)的全面畫面。
等離子體測量儀典型應用:過程監(jiān)控,探測等離子體蝕刻終點,等離子體污染和泄露,
等離子體監(jiān)控系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
工作類型:fieldbus 系統(tǒng)集成,實時過程監(jiān)控
光譜傳感器:200-1100nm
光譜通道:8個
光譜分辨率:1.5nm
動態(tài)范圍:16bit
時間分辨率:1ms
采樣時間:250us~分鐘
數(shù)據(jù)存儲:發(fā)射光譜,脈沖曲線,光譜層,信號傳感器