微米/納米熱傳導(dǎo)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
微米/納米熱傳導(dǎo)測(cè)量系統(tǒng)采用SanjSCOPE™ 納秒瞬態(tài)熱成像儀和鎖相鎖定熱反射 (TR) 系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)器件納米或微米尺度傳熱成像。
VGA SWIR紅外相機(jī) 參考價(jià)：面議
VGA SWIR相機(jī)320U-S采用NIT紅外相機(jī)WiDY技術(shù),具有防沖擊外殼,提供USB2.0或Camlink接口,專(zhuān)業(yè)紅外成像軟件具有非均勻性矯正,壞像素取...
X射線(xiàn)熒光屏-晶體 參考價(jià)：面議
X射線(xiàn)熒光屏-晶體是X射線(xiàn)熒光轉(zhuǎn)換屏,X射線(xiàn)轉(zhuǎn)換屏,X射線(xiàn)熒光屏,閃爍體轉(zhuǎn)換屏,采用閃爍單晶YAG:Ce晶體和LuAG:Ce晶體直接切割而成，從而保證具有超薄和...
軟X射線(xiàn)條紋相機(jī) 參考價(jià)：面議
軟X射線(xiàn)條紋相機(jī)是為快速過(guò)程或瞬態(tài)過(guò)程的圖像配準(zhǔn)設(shè)計(jì)的X射線(xiàn)條紋相機(jī),滿(mǎn)足在軟X射線(xiàn)波段的超快成像需要。
高分辨率增強(qiáng)型跨幀相機(jī) 參考價(jià)：面議
高分辨率增強(qiáng)型跨幀相機(jī)是一款大像素?cái)?shù)增強(qiáng)型雙幅相機(jī),具有4008x2688像素,適合對(duì)大面積成像或高清成像應(yīng)用。高分辨率跨幀相機(jī)能夠以100微秒的間隔高分辨率成...
高分辨率高速攝像機(jī) 參考價(jià)：面議
高分辨率高速攝像機(jī)是為大視場(chǎng)高速攝影設(shè)計(jì)的全高清高速相機(jī),滿(mǎn)幅2560x2048像素的幀速率為250幀/秒,全高清成像幀速率為500幀/秒,VGA圖像幀速率14...
門(mén)控超高速相機(jī) 參考價(jià)：面議
門(mén)控超高速相機(jī)是觸發(fā)速度極快的超高速門(mén)控選通成像系統(tǒng),采用高速選通像增強(qiáng)器或門(mén)控像增強(qiáng)器,用于如熒光壽命成像,雷達(dá)和時(shí)間分辨光譜等應(yīng)用。
多頭相機(jī)多維成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
多相機(jī)立體成像系統(tǒng)是一款多頭3D立體增強(qiáng)型相機(jī)系統(tǒng),具有幀間速度高,多相機(jī)頭特點(diǎn)，滿(mǎn)足燃燒測(cè)試,爆炸攝影等諸多科學(xué)研究。
高速門(mén)控增強(qiáng)相機(jī) 參考價(jià)：面議
高速門(mén)控增強(qiáng)相機(jī)是一種優(yōu)良的增強(qiáng)型門(mén)控相機(jī)攝像系統(tǒng)，專(zhuān)為超高速快門(mén)應(yīng)用而設(shè)計(jì)，具有最高的分辨率，按圖片高度測(cè)量，最高可達(dá)1300條動(dòng)態(tài)電視線(xiàn)。
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance 參考價(jià)：面議
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類(lèi)型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)...
四探針電阻率儀 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率儀是采用四點(diǎn)探針測(cè)量電阻率技術(shù)的四探針電阻率測(cè)試儀。自動(dòng)測(cè)量晶圓電阻率,探針頭方便更換,探針頭由軟件可識(shí)別,探針半徑0.25mm,軟件自動(dòng)計(jì)數(shù),...
單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀MX30是采用單點(diǎn)測(cè)厚技術(shù)為硅晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的硅晶圓測(cè)厚儀器。適合手動(dòng)測(cè)量單點(diǎn)的晶圓厚度。
多功能翹曲度測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
多功能翹曲度測(cè)定儀是一款多參數(shù)翹曲度測(cè)試儀器,可以測(cè)量PCB,IC等翹曲度,應(yīng)變等參數(shù),更可以檢測(cè)隨溫度變化的翹曲度值。
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀是專(zhuān)用為晶圓品質(zhì)檢驗(yàn),測(cè)量少子壽命,測(cè)量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測(cè)試儀器
晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x是專(zhuān)業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的少子壽命測(cè)試儀器。
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測(cè)量?jī)x器,對(duì)不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。
微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)譜儀 參考價(jià)：面議
微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)譜儀采用微波技術(shù)探測(cè)材料的光生電流瞬態(tài)光譜值,非常適合溫度依賴(lài)的少子壽命測(cè)量和半導(dǎo)體界面陷阱。
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器。采用非接觸式檢測(cè)和無(wú)損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
這款溫度型少子壽命測(cè)試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的溫度決定型少子壽命測(cè)定儀器。
進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
薄膜測(cè)厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計(jì)獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線(xiàn)性二極管陣列可快速、精確地測(cè)量單層薄膜，如氧化物...
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿(mǎn)足光學(xué)樣品的無(wú)人值守薄膜測(cè)量。測(cè)量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
聚合物薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
鏡片透光率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過(guò)率測(cè)試,隔熱紙材料透過(guò)率測(cè)試。
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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