高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀能夠高精度測(cè)量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍。
微探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測(cè)試設(shè)計(jì)的納米級(jí)微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級(jí)微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
電鏡熒光屏 參考價(jià)：面議
這款電鏡熒光屏與電鏡光導(dǎo)聯(lián)合使用用于電鏡探測(cè)和電鏡成像，電鏡熒光片采用進(jìn)口閃爍單晶，具有熒光轉(zhuǎn)換效率高，壽命長(zhǎng)的特點(diǎn)，是SEM掃描電鏡探測(cè)成像和TEM透射電鏡探...
磁場(chǎng)消除系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款磁場(chǎng)消除系統(tǒng)專業(yè)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場(chǎng)噪聲問(wèn)題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像...
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái) 參考價(jià)：面議
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái)VAN DER WAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在位置的堆積過(guò)程研究設(shè)計(jì)的范德瓦爾斯位移臺(tái)。
C-V/I-V特性測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
C-V/I-V特性測(cè)試儀是為半導(dǎo)體C-V特性分析測(cè)試和I-V特性測(cè)試分析設(shè)計(jì)的C-V/I-V測(cè)試系統(tǒng)。
混凝土掃描儀 參考價(jià)：面議
這款混凝土掃描儀是專業(yè)為鋼筋混凝土掃描設(shè)計(jì)混凝土鋼筋掃描儀,能夠掃描處混凝土內(nèi)的鋼筋,管線和空隙,查找鋼筋和管道走向,避免施工切割到鋼筋和管線。
激光多普勒測(cè)振儀 參考價(jià)：面議
激光多普勒測(cè)振儀是為非接觸式振動(dòng)測(cè)量設(shè)計(jì)的激光測(cè)振儀器,可非接觸式測(cè)量任何表面的振動(dòng),采用激光束準(zhǔn)直對(duì)準(zhǔn)待測(cè)振動(dòng)平面,遠(yuǎn)測(cè)量距離高達(dá)5米,不需要任何光學(xué)和機(jī)械調(diào)...
納米掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款納米掃描電鏡SEM-20是臺(tái)式掃描電鏡,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)電鏡應(yīng)用。
臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款臺(tái)式掃描電鏡SEM-30是納米掃描電鏡,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)研究。
EDS掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款EDS掃描電鏡SEM-30AX是安裝有Thermal公司緊湊型EDS探測(cè)器的高性價(jià)比掃描電鏡,集成了掃描電鏡和能量色散光譜儀功能,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非...
晶圓灰化系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
晶圓灰化系統(tǒng)是為晶圓ashing設(shè)計(jì)的晶圓灰化機(jī),wafer ashing,廣泛用于本體抗蝕劑,LDI后抗蝕劑,聚合物去除。
多功能量子效率測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這套多功能太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)量系統(tǒng)是多用途量子效率測(cè)試系統(tǒng),一套量子效率測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)量：薄膜厚度, 折射率，透過(guò)率，光學(xué)常數(shù), 光譜響應(yīng)（Spectral ...
大型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI,晶圓光學(xué)jian測(cè) 參考價(jià)：面議
大型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI是為14''晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測(cè),自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)晶圓、芯片、引線鍵合等。
3D自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),AOI,SMT半導(dǎo)體 參考價(jià)：面議
這款3D自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)是為晶圓AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的全自動(dòng)3D AOI三維自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,可應(yīng)用于SMT生產(chǎn)線和半導(dǎo)體制造的第二道工序。
薄膜粘附力熱學(xué)測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
這款薄膜粘附力熱學(xué)測(cè)試儀是為薄膜厚度測(cè)量,薄膜粘附力測(cè)量和薄膜熱導(dǎo)率測(cè)量設(shè)計(jì)的薄膜特性分析測(cè)試儀器。采用光聲顯微鏡和異步光學(xué)采樣ASOPS技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度薄膜力學(xué)...
高壓探針臂,高壓電流探針測(cè)試,probe arm 參考價(jià)：面議
這款高壓探針臂 probe arm也是大電流探針臂,可加持各種探針,滿足20KV和200A的高壓電流探針測(cè)試。
三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm 參考價(jià)：面議
三軸探針臂,同軸探針臂是為探針測(cè)量專用三軸探針夾具,Triaxial probe arm.
晶圓分揀機(jī)器人,自動(dòng)晶圓fen揀機(jī) 參考價(jià)：面議
晶圓分揀機(jī)器人是為大尺寸晶圓硅片分揀分選設(shè)計(jì)的自動(dòng)晶圓分揀機(jī)系統(tǒng)，可分選高達(dá)12''尺寸晶圓。
帶式晶圓分選機(jī),硅片分選 參考價(jià)：面議
帶式晶圓分選機(jī)belt sorter是專業(yè)為晶圓硅片分選設(shè)計(jì)的皮帶式晶圓硅片分選機(jī),最大可適合8''晶圓分選分揀,非常適合晶圓硅片的生產(chǎn)測(cè)試。
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI,晶圓,引線鍵合檢測(cè) 參考價(jià)：面議
大型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI是為14''晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測(cè),自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)晶圓、芯片、引線鍵合等。
電路板自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)AOI,PCBA光學(xué)jian測(cè) 參考價(jià)：面議
電路板自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)AOI Systems是為電路板PCB和PCBA光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的線上桌面型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)。
3D自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),AOI光學(xué)jian測(cè)機(jī) 參考價(jià)：面議
這款3D自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)是為晶圓AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的全自動(dòng)3D AOI三維自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,可應(yīng)用于SMT生產(chǎn)線和半導(dǎo)體制造的第二道工序。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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