德國FISCHER鍍層厚度測量儀X-RAY XULM240

優(yōu)點
德國設計，技術先進
一個軟件實現(xiàn)鍍層厚度測量和材料分析兩個功能
擴展統(tǒng)計功能。例如，測量結果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示
圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置
基于基本參數(shù)分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現(xiàn)精確的測量結果
距離控制測量（DCM）：允許通過快速更改測量距離，在不需要設置和校準另一個測量任務的情況下，測量不同高度的測試部件。軟件能夠識別測量的距離，并自動校正評估。
測量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測量質(zhì)量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您
任務程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進行編程并執(zhí)行。例如，一項任務可以自動測量多個合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺移動到樣品位置，加載每個合金特定的測量條件，*后根據(jù)您的需要生成測試報告

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 是一款、設計緊湊、應用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控、來料檢驗及生產(chǎn)過程控制中測量使用。

德國FISCHER鍍層厚度測量儀X-RAY XULM240

典型的應用領域有:
·對十分微小零部件、接插件和線材進行測量
·在印制電路板上進行手動測量
·針對珠寶和手表業(yè)中需求的測量

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。正如所有的FISCHERSCOPE XRAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。

依靠 FISCHER 的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

XULM 240 型儀器配備有微聚焦X射線管以及可電動切換的視準器和基本濾片，因此更適合對微小工件進行測量。