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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240信息

來源:無錫駿展儀器有限責任公司   2025年02月10日 15:02  

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用自動方式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能全自動檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL240典型的應用領域有:

• 測量大規(guī)模生產的電鍍部件

• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

• 全自動測量,如測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液


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