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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>其它光譜儀>ATP5104 高性能光纖光譜儀

ATP5104 高性能光纖光譜儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 奧譜天成(廈門)光電有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) ATP5104
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/2/11 8:52:31
  • 訪問次數(shù) 2748
產(chǎn)品標(biāo)簽

高性能光纖光譜儀

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  奧譜天成(廈門)光電有限公司,由光譜儀器領(lǐng)域?qū)<一I建,致力于開發(fā)具有水平的光譜分析儀器等技術(shù)創(chuàng)新和應(yīng)用推廣。公司與廈門大學(xué)、浙江大學(xué)、*等單位緊密合作,實(shí)現(xiàn)多個(gè)系列的光譜儀和拉曼光譜儀的研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化,目前已廣泛應(yīng)用于安防、食品安全、藥品檢測(cè)、LED分光、水質(zhì)檢測(cè)等多種行業(yè)領(lǐng)域。

◆ “重大科學(xué)儀器專項(xiàng)計(jì)劃”承擔(dān)者;

◆ 重大產(chǎn)業(yè)化專項(xiàng)項(xiàng)目承擔(dān)者;

◆ 國(guó)家《拉曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)》起草單位;福建省《便攜式拉曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)》評(píng)審專家單位。

◆ 廈門市“雙百人才計(jì)劃”A類重點(diǎn)引進(jìn)項(xiàng)目(Z高等級(jí));

◆ 拉曼光譜儀、光纖光譜儀等光譜分析方案提供商;

◆ 產(chǎn)品可靠性:生產(chǎn)工藝來自航天、通訊技術(shù);

◆ 借鑒安捷倫(Agilent)的全套質(zhì)控體系;

◆ 快速樣機(jī)設(shè)計(jì)與生產(chǎn)能力,可接收光電模塊定制開發(fā);

◆ 廈門大學(xué)、集美大學(xué)、廈門理工學(xué)院實(shí)習(xí)基地;




拉曼光譜儀,光纖光譜儀,熒光光譜儀,地物光譜儀

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生

ATP5104-紫外增強(qiáng)高性能光纖光譜儀

產(chǎn)品概述

    ATP5104是奧譜天成針對(duì)紫外光譜,特別研制的高性能紫外增強(qiáng)型微型光纖光譜儀,它采用3072像素的紫外增敏線性CCD,可以適應(yīng)165-1100nm波長(zhǎng)范圍的測(cè)試,CCD檢測(cè)器曝光時(shí)間可以控制在1ms之內(nèi),同時(shí),奧譜天成為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號(hào)處理電路,其量化噪聲小于3 counts,為業(yè)界*水平,可以幫助您可以獲得*的光譜信噪比。

 

  ATP5104是紫外、可見、近紅外光譜應(yīng)用的理想選擇,有不同的狹縫、光柵、反射鏡、濾光片可以選擇,可以根據(jù)您的需求,配置適合不同應(yīng)用場(chǎng)合的光譜儀,光譜范圍從165nm起至1050nm,光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇,奧譜天成也可為OEM客戶提供定制選擇。

 ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測(cè)光,根據(jù)設(shè)定的積分時(shí)間進(jìn)行測(cè)量,將測(cè)量結(jié)果通過USB2.0(高速)或者UART輸出;

ATP5104-紫外增強(qiáng)高性能光纖光譜儀

特點(diǎn):

  • 紫外增強(qiáng)高性能背照式CCD

  • 專門針對(duì)紫外優(yōu)化的光路和結(jié)構(gòu);

  • 探測(cè)器:背照式CCD

  • 探測(cè)器像素:3072

  • 超低噪聲CCD信號(hào)處理電路

  • 光譜范圍: 165-1100 nm

  • 光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

  • 光路結(jié)構(gòu):交叉C-T

  • 積分時(shí)間:2ms-130s

  • 供電電源:DC 5V±10% @ <2.3A

  • 18 bit, 570KHz A/DConverter

  • 光輸入接口:SMA905或自由空間

  • 數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

  • 20針雙排可編程外擴(kuò)接口

ATP5104-紫外增強(qiáng)

典型應(yīng)用:

  • 拉曼光譜儀

  • 微量、快速分光光度計(jì);

  • 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

  • 透過率、吸光度檢測(cè);

  • 反射率檢測(cè);

  • 紫外、可見和短波近紅外

  • 波長(zhǎng)檢測(cè)

探測(cè)器

類型

線陣背照式CCD

探測(cè)光譜范圍

165-1100 nm

有效像素

3072

像元尺寸

600μm×8μm

全量程范圍

~200 ke-

靈敏度

6.5 uV/e-

暗噪聲

6 e-

光學(xué)參數(shù)

波長(zhǎng)范圍

165-1100 nm

光學(xué)分辨率

0.1-4  nm (取決于狹縫、光譜范圍)

性噪比

>1000:1

動(dòng)態(tài)范圍

3000:1

工作溫度

-10-40 oC

工作濕度

< 85%RH

光路參數(shù)

光學(xué)設(shè)計(jì)

f/4 交叉非對(duì)稱C-T光路

焦距

40 mm for incidence / 60 mm for  output

入射狹縫寬度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可選,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纖接口、自由空間

電氣參數(shù)

積分時(shí)間

1 ms - 130 second

數(shù)據(jù)輸出接口

USB 2.0

ADC位深

18  bit

供電電源

DC 5V±10%

工作電流

<2.3A

存儲(chǔ)溫度

-20°C  to +70°C

操作溫度

-10°C  to +40°C

物理參數(shù)

尺寸

102×720×34 mm3

重量

0.3 kg

Sealing

Anti-sweat

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