GDJD-600型高、低溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)
  
GDJD-600型高低溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)（四通道測(cè)試，同時(shí)測(cè)試4個(gè)樣品） 
關(guān)鍵詞：高低溫介電測(cè)量?jī)x，高、低溫介電測(cè)量系統(tǒng)， 

產(chǎn)品介紹： 
   GDJD-600型高溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高低溫下材料的介電性能測(cè)試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。 
一、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì): 
1.實(shí)現(xiàn)室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉(zhuǎn)換測(cè)量 
2.四通道測(cè)試,可以同時(shí)測(cè)試1-4個(gè)樣品，方便快捷 
3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù) 
二、《符合ASTMD150和 D2149-97標(biāo)準(zhǔn)>> 
<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的*方法;》 
三、產(chǎn)品特點(diǎn) 
1.可以在低高溫、寬頻、真空條件下測(cè)量固體、薄膜樣品的介電性能； 
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測(cè)量功能; 
3.可以測(cè)量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線，時(shí)間和電壓變化的曲線； 
4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測(cè)試要求。 
主要技術(shù)指標(biāo)： 
測(cè)量溫度： -160°C-800°C     升溫斜率：2°C /min 
頻率范圍：20-30MHZ     精度：0.05% 
測(cè)量精度： ±0.1°C     控溫精度：±1°C（PID精準(zhǔn)控溫） 
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好     測(cè)試方法：兩線法或四線法 
測(cè)試通道數(shù)：1-4通道     一次可測(cè)樣品數(shù)：1-4個(gè)樣品 
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸     測(cè)量精度：0.05% 
AC電平：  0V 到 1V rms     直流偏壓：0到±40V/100mA 
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：EXCEL表格等多種格式     加熱方式：電阻絲加熱 
真空度范圍：100 Pa-1大氣壓     電極材料：鉑金 
數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口     儀器通訊：USB或GPIB