1.牛津全自動膜厚儀儀器介紹

X-Strata920熒光牛津全自動膜厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測量，多層合金測量，高生產力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。

2.牛津全自動膜厚儀適用范圍

用于電子元器件，半導體，PCB，F(xiàn)PC，LED支架，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器，端子，衛(wèi)浴潔具，首飾飾品……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量；

測量鍍層，金屬涂層，薄膜的厚度或液體（鍍液的成分分析）組成。

3.主要特點

測量范圍寬，可檢測元素范圍：Ti22–U92；

可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；

精度高、穩(wěn)定性好；

強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能；

NIST認證的標準片；

服務及支持。

牛津全自動膜厚儀的配置

X-Strata920測試主機

聯(lián)想ThinkCentre計算機（原IBM）------Windows7中文版、SmartLink FP分析軟件包

17吋戴爾Dell液晶顯示器

能Canon彩色噴墨打印機

標準片組件（滿足鍍層需要）

X-Strata920工作特點

測量元素范圍：鈦Ti²²---鈾U⁹²；

測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；

測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果精確至μin；

快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果；

可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；

進行貴金屬檢測，如Au karat評價；

材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖；

結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等；

測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標準光學放大倍數(shù)為30倍；

激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦；

擁有NIST認證的標準片；

提供服務及。