頂配Maxxi6膜厚儀鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析，頂配Maxxi6膜厚儀可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的¹³Al到⁹²U。

頂配Maxxi6膜厚儀優(yōu)化的微聚焦硬件和直觀的用戶界面，簡化了常規(guī)分析，提高了產(chǎn)出，使用“一鍵式”操作可確保zui簡單的培訓(xùn)就能同專業(yè)技術(shù)人員得到一樣的結(jié)果。高級(jí)用戶能容易地理解X熒光光譜，獲得定制的校準(zhǔn)和探索未知的材料。

頂配Maxxi6膜厚儀參數(shù)功能介紹表： 

元素范圍 ¹³Al to ⁹²U，電源 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz，分析層數(shù)&元素?cái)?shù)量，自定義（在元素范圍內(nèi)），自定義鍍層結(jié)構(gòu),含合金鍍層

X射線激發(fā)

 50 kV, 1.2 mA (60 W) 高壓發(fā)生器

Be窗微聚焦W陽極靶射線管(Mo陽極靶射線管可選)

 探測(cè)器5 mm² SDD探測(cè)器Peltier電制冷，能量分辨率140 eV  (FWHM for MnKα )

 一次綠光片(選配件)，多至5位自動(dòng)切換一次濾光片

準(zhǔn)直器單準(zhǔn)直器: 0.1 x 0.4 mm, 0.1 x 0.7 mm, 0.1 mm, 0. 3 mm, 0.5 mm,