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ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術(shù)是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內(nèi),準確而同時地測量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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