隨著能源轉(zhuǎn)型加速和半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，光伏電池及高效半導(dǎo)體器件的研發(fā)對(duì)材料性能測(cè)試提出了更高要求。電致發(fā)光（Electroluminescence, EL）量子效率（Quantum Efficiency, QE）作為評(píng)估材料光電轉(zhuǎn)換效率的核心指標(biāo)，直接關(guān)系到太陽(yáng)能池、LED、激光器等器件的性能優(yōu)化與產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程。然而，傳統(tǒng) EL 測(cè)量設(shè)備普遍存在靈敏度不足、光譜范圍受限、測(cè)試速度慢等問(wèn)題，難以滿足新型材料（如鈣鈦礦、InGaN/GaN 異質(zhì)結(jié)）的高精度分析需求。

東譜科技作為國(guó)內(nèi)光電測(cè)試儀器領(lǐng)域的企業(yè)，推出全新一代 HiYield-EL 電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)x，以創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計(jì)、智能化分析算法和全光譜覆蓋能力，為光伏、半導(dǎo)體材料研發(fā)提供高效、精準(zhǔn)的測(cè)試解決方案，助力科研與產(chǎn)業(yè)突破技術(shù)瓶頸。

（一）原理

電致發(fā)光（Electroluminescence，簡(jiǎn)稱 EL）是一種將電能直接轉(zhuǎn)換為光能的物理現(xiàn)象，其原理基于半導(dǎo)體材料的特性和電子與空穴的復(fù)合過(guò)程。

技術(shù)特點(diǎn)

1、HiYield - EL支持 300–1700nm 寬光譜范圍，兼容硅基、鈣鈦礦、III-V 族化合物（如 GaN、InGaN）等多種材料體系。采用高靈敏度制冷型探測(cè)器，顯著提升近紅外波段（800–1700nm）的 EL 信號(hào)檢測(cè)能力。

2、集成自動(dòng)化電流 - 電壓（I-V）控制模塊，支持 0.1mA–1A 寬范圍電流輸入，適配實(shí)驗(yàn)室及產(chǎn)線級(jí)測(cè)試需求。配備 AI 輔助分析軟件，一鍵生成 EL 光譜、外量子效率（EQE）、內(nèi)量子效率（IQE）曲線及器件能帶結(jié)構(gòu)分析報(bào)告。模塊化光路結(jié)構(gòu)，支持快速更換濾光片、光柵等組件，適應(yīng)多場(chǎng)景測(cè)試需求。

3、測(cè)試參數(shù)全面，可以得到量子效率 EQE。支持氣體氛圍、器件不封裝轉(zhuǎn)移測(cè)試、手套箱等環(huán)境的測(cè)試。全面參數(shù)的器件老化測(cè)試?？蓽y(cè)量外量子效率（EQE）、電流效率、功率效率等。能夠獲取電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等參數(shù)。還可得到光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)等數(shù)據(jù)。

可分析 CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK - 1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等。能夠生成電壓 V - 時(shí)間曲線、電流密度 J - 時(shí)間曲線、電流效率 LE - 時(shí)間曲線、功率效率 PE 時(shí)間曲線、色度 - 時(shí)間曲線等。