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絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域?

來源:北京華測試驗儀器有限公司   2025年01月20日 11:28  


絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域?

 

產(chǎn)品介紹:

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓,并經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時可按需定制),觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值的變化狀況,從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

 

應(yīng)用領(lǐng)域:

封裝材料:助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料;

電子材料:印BGA、CSP等精細節(jié)距IC封裝件;

有機半導(dǎo)體:PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等;

電子元器件:電容、連接器等其他電子元器件及材料;

絕緣材料:各種絕緣材料的吸濕性特性評估。

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