一、工作原理
植被冠層分析儀基于冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理,采用比爾定律(即光線在穿過介質(zhì)時因散射和吸收而減弱)作為核心原理。通過對冠層孔隙率的測定,并結(jié)合半理論半經(jīng)驗公式,計算出冠層結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵參數(shù)。
二、功能特點
光穿透測量:通過測量冠層下方不同高度處的光強度,分析冠層對太陽輻射的吸收和透射情況。這包括直射光和散射光透過冠層的情況,對于研究光合作用效率至關(guān)重要。
葉面積指數(shù)(LAI)估計:計算植物單位面積上的葉片面積總和,是衡量植被覆蓋度的關(guān)鍵指標之一。
冠層結(jié)構(gòu)分析:評估葉片的空間分布情況,如葉子的角度分布等,有助于了解植物冠層的結(jié)構(gòu)及其對光照的捕獲效率。
冠層間隙分析:通過分析冠層中空隙的比例,了解冠層的遮蔽程度。
三、可測量指標
植被冠層分析儀支持多項關(guān)鍵參數(shù)測量,涵蓋植物冠層結(jié)構(gòu)多維度信息:
葉面積指數(shù):計算植物單位面積上的葉片面積總和,是植物光合作用和生長評估的重要指標。
葉片平均傾角:測量葉片相對于地面的平均傾斜角度,有助于評估植物冠層的光截獲能力。
天空散射光透過率:測量散射光透過植物冠層的比例,反映冠層對自然光分布的調(diào)節(jié)能力。
不同太陽高度角下的直射輻射透過率:記錄在不同太陽角度下,直射光穿透冠層的能力,分析植物在不同光照條件下的光能利用效率。
不同太陽高度角下冠層的消光系數(shù):測量冠層對直射光的削弱程度,評估冠層對光能的吸收與反射能力。
葉面積密度的方位分布:計算不同方位葉片的分布密度,幫助分析植物冠層的均勻性和結(jié)構(gòu)特點。
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