RoHS分析儀EDX8000B能量色散XRF?

從技術角度講, 完整的RoHS的解決方案應該是XRF(X射線熒光光譜儀)、 ICP(電感耦合等離子發(fā)射光譜)再加上GC-MS(氣相色譜和質(zhì)譜連用)和紫外分光光度計等。 但在實際應用中, X射線光譜現(xiàn)場分析方法的樣品制備簡單, 能非破壞性地快速進行多元素分析, 可以迅速篩查多種類樣品基質(zhì)如液體、 固體、 泥漿、 粉末、 糊狀物、 薄膜、 空氣過濾物以及其他很多基質(zhì)樣品中的未知成分。 對于最新一代X射線熒光ROHS分析儀EDX8000B而言, 其配備了SDD檢測器，進口X射線管管芯，并搭載了薄膜濾光片（有效提高Cl元素檢測下限），檢測塑膠類樣品和輕質(zhì)金屬材料中的Pb, Cd, Hg, 總Br和總Cr, 檢出限可達到2 μ g· g-1; 檢測Fe, Ni, Cu, Zn及其合金以及焊錫中的Pb和Cr等成分, 檢出限可以達到20~50 μ g· g-1, Cd的檢出限可以達到10 μ g· g-1.

X射線熒光光譜ROHS分析儀EDX8000B是利用樣品對X射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單，光譜干擾少，試樣形態(tài)多樣性及測定時的非破壞性等特點。

X射線熒光ROHS分析儀EDX8000B不僅可以分析塊狀，粉末樣品，還可對多層鍍膜的各層鍍膜分別進行成分和膜厚的分析。

當試樣受到X射線，高能粒子束，紫外光等照射時，由于高能粒子或光子與試樣原子碰撞，將原子內(nèi)層電子逐出形成空穴，使原子處于激發(fā)態(tài)，這種激發(fā)態(tài)離子壽命很短，當外層電子向內(nèi)層空穴躍遷時，多余的能量即以X射線的形式放出，并在教外層產(chǎn)生新的空穴和產(chǎn)生新的X射線發(fā)射，這樣便產(chǎn)生一系列的特征X射線。特征X射線是各種元素固有的，它與元素的原子系數(shù)有關。所以只要測出了特征X射線的波長λ，就可以求出產(chǎn)生該波長的元素。即可做定性分析。在樣品組成均勻，表面光滑平整，元素間無相互激發(fā)的條件下，當用X射線（一次X射線）做激發(fā)原照射試樣，使試樣中元素產(chǎn)生特征X射線（熒光X射線）時，若元素和實驗條件一樣，熒光X射線強度與分析元素含量之間存在線性關系。根據(jù)譜線的強度可以進行定量分析。

ROHS光譜分析儀EDX8000B廣泛應用于檢測ROHS六種有害元素成分分析，通過儀器檢測確認ROHS有害元素是否達標。ROHS有害元素包含：鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價鉻Cr6+，多溴二苯醚BDE，多溴聯(lián)苯PBB等元素檢測。同時還能進行無鹵檢測（氯元素成分分析）和膜厚測試，涵蓋行業(yè)：電子、電器、醫(yī)療、通信、玩具等。

EDX8000B光譜儀是專用ROHS檢測儀，已經(jīng)成為了食品重金屬和ROHS有害元素的克星。

為了滿足客戶日益更為嚴苛的測試需求，特別是對微量痕量元素測試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標準，英飛思ESI全新開發(fā)了升級版EDX8000B---RoHS分析檢測光譜儀。相較于基礎版本的Si-pin硅針檢測器，EDX8000B ROHS分析儀裝備了SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量，更好的光譜分辨率，使得檢測性能提高了2-3倍。

ROHS檢測儀EDX8000B的優(yōu)勢：

•更快---由于單位時間內(nèi)可以獲得更高樣品信號通量，使得測量時間大幅減少。100秒即可達到普通版本儀器200秒的測量效果

•更準---多道分析器DPP可實現(xiàn)超過100,000 cps的線性計數(shù)速率而同時保證優(yōu)秀的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV（普通Si-pin探測器為160eV），以更好地分離不同元素的光譜。同時，強大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強效應，并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾，把測試準確度提高到了新的水平

•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測器(普通Si-pin檢測器6mm2),該款檢測器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測器的光譜強度（計數(shù)率CPS），從而得到更好的測試穩(wěn)定性和長期重復性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺式儀器相比，EDX8000B光譜儀可以全功率運行，因此實現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測試表現(xiàn)