IC芯片檢測用恒溫恒溫試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
恒溫恒濕試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GJB150.3 高溫試驗
2.GJB150.4 低溫試驗
3.GJB150.9 濕熱試驗
4.GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件
5.GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
6.GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
7.GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
8.GB/T2423.1-2008 低溫試驗箱試驗方法
9.GB/T2423.2-2008 高溫試驗箱試驗方法
10.GB/T2423.3-2006 濕熱試驗箱試驗方法
11.GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗方法
12.GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗方法
13.IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
14.IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
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