Microtrac MRB：作為一個顆粒表征解決方案的供應(yīng)商，提供三條產(chǎn)品線，在三大洲擁有研發(fā)和技術(shù)中心。

散射光分折: Microtrac MRB作為粒度測量的通用方法—靜態(tài)激光衍射法的領(lǐng)導(dǎo)者，還提供的動態(tài)光散射納米粒度儀，用于納米顆粒的表征。該產(chǎn)品線的開發(fā)和生產(chǎn)地點位于美國的賓夕法尼亞州。

圖像分析: Microtrac MRB基于動態(tài)圖像分析技術(shù)，為顆粒大小和形態(tài)的測定提供了高質(zhì)量的PartAn系列測量系統(tǒng)。這些圖像分析儀的開發(fā)和生產(chǎn)地點位于德國的哈恩。

比表面和孔徑測量: Microtrac MRB的另外一條產(chǎn)品線采用氣體吸附法為粉體樣品的比表面值，BET值和孔徑測量提供了吸附系列的分析儀器。開發(fā)和生產(chǎn)以及裝配地點位于日本大阪的表面分析中心。