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X射線熒光分析儀(XRF)

污染元素進行預校準。也可以方便地使用現(xiàn)場的樣品來對儀器進行校準，以達到*的分析準確性。

廣泛的含量范圍，被分析樣品類型不受任何限制。含量范圍從*到ppm(g/l)級。分析可直接對土壤樣品表面進行，也可在地表進行?？芍苯臃治龉腆w、粉末、液體、濾紙中的空氣微粒、擦拭藥簽、各種設備表面、涂鍍層、植物等。

快速、簡單的分析--室內(nèi)或室外。X-Met3000TX可用于污染土壤的預先篩選也可用于土壤清理工程的后續(xù)分析。分析的過程非常簡單：將分析頭直接對準樣品（現(xiàn)場測量），或?qū)悠钒湃敕治鋈萜髦校ìF(xiàn)場實驗室測量），扣動儀器開關，讀取結果。無需預先知道樣品組成的信息。

通常在土壤分析中，zui重要的元素為Pb、As、Cr、Cu、Zn、Ni、Cd、Co、Se、Mo及Sb。

產(chǎn)品信息： 
實驗室中的桌面操作，提供使用特殊的樣品包容器或特殊樣品杯，樣品可放置于塑料袋中。通過有效的掃描和分析確定污染程度。
可同時分析土壤中的所有有害元素。無需樣品準備（現(xiàn)場分析）或只需將樣品放置在塑料包中（現(xiàn)場實驗室分析）。只在分析樣品中含量低于100ppm的元素時需要額外的樣品準備工作。典型的分析時間為15秒到300秒，取決于要求的性能、具體應用及感興趣的元素。結果可以馬上獲得并存儲在計算機中進一步處理。 

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