奧林巴斯帶延遲塊測(cè)厚儀探頭，V201-RM 至V208-RM 精確測(cè)厚，較高的探頭頻率提高了分辨率。直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
奧林巴斯帶延遲塊測(cè)厚儀探頭
V201-RM 至V208-RM 精確測(cè)厚
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場(chǎng)分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測(cè)厚。
• 垂直聲束缺陷探測(cè)。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。
可更換延遲塊探頭
• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和 一個(gè)固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
奧林巴斯帶延遲塊測(cè)厚儀探頭
V201-RM 至V208-RM 精確測(cè)厚
選購(gòu)型號(hào):
| 頻率 | 標(biāo)稱
晶片尺寸 | 探頭
工件編號(hào) |
| MHz | 英寸 | 毫米 |
| 2.25 | 0.25 | 6 | V204-RM |
| 5 | 0.50 | 13 | V206-RM |
| 0.25 | 6 | V201-RM |
| 10 | 0.25 | 6 | V202-RM |
| 0.125 | 3 | V203-RM |
| 15 | 0.25 | 6 | V205-RM |
| 20 | 0.125 | 3 | V208-RM |
可更換延遲塊探頭選項(xiàng)
標(biāo)準(zhǔn)
晶片尺寸 | 標(biāo)稱
延遲塊 | 高溫 | 干耦合
延遲塊 | 備用固定環(huán) | 帶有彈簧的支架 | |
*高175°C
(350°F) | *高260°C
(500°F) | *高480°C
(900°F) | |
| 英寸 | 毫米 | |
| 0.50 | 13 | DLH-2 | DLHT-201 | DLHT-2 | DLHT-2G | DLS-2 | DRR-2 | 2130 | |
| 0.25 | 6 | DLH-1 | DLHT-101 | DLHT-1 | DLHT-1G | DLS-1 | DRR-1 | 2127&DRR-1H | |
| 0.125 | 3 | DLH-3 | DLHT-301 | DLHT-3 | DLHT-3G | DLS-3 | DRR-3 | 2133&DRR-3H |
美國(guó)達(dá)高特
公司是一間專門(mén)生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測(cè)厚儀及探傷設(shè)備. 儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長(zhǎng)度測(cè)量。
產(chǎn)品系列
超聲波測(cè)厚儀ZX系列 ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL
超聲波測(cè)厚儀ZX系列 ZX-6 / ZX-6DL
多功能精密超聲測(cè)厚儀PVX
多功能超聲測(cè)厚儀系列
A/B掃描超聲波測(cè)厚儀MVX
多功能涂層超聲測(cè)厚儀CMX
多功能涂層A/B掃描超聲測(cè)厚儀CMX DL+
MINI-MAX超聲螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
PR-8V精密超聲測(cè)厚儀
UMX-2 超輕量式水下測(cè)厚儀
深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多歐美高科技儀器和設(shè)備，其中尤以
無(wú)損檢測(cè)和金相理化設(shè)備為主。包括：超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相樣、
光譜等等。
