粒形分析儀采樣分析
粒形分析儀采用激光光阻技術(shù),不需要任何假設(shè)或樣品特性,可直接測定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。這種*的分析技術(shù),被稱為“Laser Obscuration Time”激光光阻技術(shù)(LOT)。
LOT與其他激光衍射技術(shù)相比的主要優(yōu)勢是其較高的分辨率,通過對小范圍的檢測從而得到更好的測量精度。使用LOT技術(shù)主要好處是,即使有任何其他顆?；蚪橘|(zhì)的物理或化學(xué)性質(zhì)影響,仍得到可靠地測量結(jié)果。配套的軟件,通過分析計算復(fù)雜的多脈沖信號光阻時間,可在幾秒鐘內(nèi)得到清楚和精確的顆粒分布測量結(jié)果。
粒形分析儀實時可視化采樣,有效地讓用戶可以輕松地監(jiān)測樣品準備過程或受污染情況,同時也為了避免樣品無關(guān)的或不必要的組分影響分析結(jié)果。
采用*的激光光阻法進行快速的粒徑測量；
采用復(fù)雜的動態(tài)圖像分析法,地分析顆粒粒形；
測量結(jié)果直接且僅取決于顆粒大?。?/div>
測量結(jié)果不受顆?；蚪橘|(zhì)的物理和光；
測量結(jié)果直接與顆粒大小相關(guān),而非推算出來；
無需了解樣品的折射指數(shù)；
能分析半透明和透明的樣品激光和圖像通道的結(jié)合*地結(jié)合了激光光阻法和復(fù)雜的動態(tài)粒形圖像分析技術(shù)；
對球形、非球形及延長顆粒的分析定性；
可同時測量粒徑、形狀和濃度多種樣品池和光學(xué)元件配置可滿足不同類型的干法及濕法檢測需求；
測量過程中可實時觀察樣品顆粒圖像。
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