鹽霧試驗(yàn)箱 老化機(jī)

用途：

1、電子電器零組件：測(cè)試電子元件在溫度急劇變化下的性能，以評(píng)估其可靠性和耐用性。
2、自動(dòng)化零部件：確保自動(dòng)化系統(tǒng)中使用的部件能夠在溫度下正常工作。

3、通訊組件：對(duì)通訊設(shè)備進(jìn)行溫度沖擊測(cè)試，以保證其在不同溫度環(huán)境下的通信質(zhì)量。
4、汽車(chē)配件：測(cè)試汽車(chē)零部件在極寒或極熱環(huán)境下的性能，以確保車(chē)輛在氣候下的安全和性能。
5、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)：評(píng)估這些材料在溫度沖擊下的物理和化學(xué)性質(zhì)變化。
6、國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)：對(duì)軍事和航天設(shè)備進(jìn)行嚴(yán)格的溫度沖擊測(cè)試，以確保其在戰(zhàn)場(chǎng)或太空環(huán)境中的穩(wěn)定性。
7、半導(dǎo)體和高分子材料：測(cè)試這些材料在溫度沖擊下的物理變化，以評(píng)估其適應(yīng)性和可靠性。
8、科技研發(fā)：在產(chǎn)品研發(fā)階段，幫助工程師發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計(jì)缺陷和性能瓶頸，確保產(chǎn)品在條件下的穩(wěn)定性。

鹽霧試驗(yàn)箱 老化機(jī)

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)