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池田屋現(xiàn)貨KYORITSURIKA共立理化 WAK-BTB型pH水質(zhì)離子測(cè)試包
池田屋現(xiàn)貨KYORITSURIKA共立理化WAK-BTB型pH水質(zhì)離子測(cè)試包池田屋現(xiàn)貨KYORITSURIKA共立理化WAK-BTB型pH水質(zhì)離子測(cè)試包品牌KYORITSU/共立型號(hào)WAK-BTB類(lèi)型水質(zhì)快速分析儀安裝方式便攜式加工定制否測(cè)量范圍pH5.8~≥8.0測(cè)量精度以參數(shù)為準(zhǔn)電源電壓無(wú)需供電分辨率pH5.8重量0.14kg產(chǎn)地日本日本KyoritsuWAK-BTB型pH水質(zhì)離子測(cè)試包用于測(cè)試水中pH含量。規(guī)格參數(shù):產(chǎn)品類(lèi)型:水質(zhì)簡(jiǎn)易測(cè)定器產(chǎn)品型號(hào):WAK-BTB測(cè)定原理:使用pH指示劑的 -
現(xiàn)貨KYORITSURIKA共立理化 WAK-pH型pH水質(zhì)離子測(cè)試包
品牌KYORITSU/共立型號(hào)WAK-pH類(lèi)型水質(zhì)快速分析儀安裝方式便攜式測(cè)量范圍pH5.0~9.5測(cè)量精度以參數(shù)為準(zhǔn)電源電壓無(wú)需供電分辨率pH5.0加工定制否重量0.14㎏產(chǎn)地日本現(xiàn)貨KYORITSURIKA共立理化WAK-pH型pH水質(zhì)離子測(cè)試包現(xiàn)貨KYORITSURIKA共立理化WAK-pH型pH水質(zhì)離子測(cè)試包日本KyoritsuWAK-pH型pH水質(zhì)離子測(cè)試包用于測(cè)試水中pH含量。規(guī)格參數(shù):產(chǎn)品類(lèi)型:水質(zhì)簡(jiǎn)易測(cè)定器產(chǎn)品型號(hào):WAK-pH測(cè)定原理:使用pH指示劑的視覺(jué)比色法測(cè)定范圍:pH5 -
THINKY新基旋轉(zhuǎn)/公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)ARE-310 倉(cāng)庫(kù)現(xiàn)貨
THINKY新基旋轉(zhuǎn)/公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)ARE-310倉(cāng)庫(kù)現(xiàn)貨THINKY新基旋轉(zhuǎn)/公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)ARE-310倉(cāng)庫(kù)現(xiàn)貨旋轉(zhuǎn)/公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)泡取連太郎常壓型行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)旋轉(zhuǎn)/公轉(zhuǎn)混合器,非常適合在研究、開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中制備少量材料。模型ARE-310最大承載能力310克粟取連太郎單杯分散常壓型攪拌生產(chǎn)用途研究開(kāi)發(fā)支持消泡消泡方式特征配備的冷卻機(jī)制。如需連續(xù)使用,我們推薦使用ENetsamashi(可選)的套裝。它用途廣泛,可與從低粘度到高粘度的各種材料一起使用??梢詫?shí)現(xiàn)細(xì)顆粒的均勻分散。高粘度物料的攪拌和消泡可在幾 -
THINKY新基公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)ARE-312 池田屋實(shí)業(yè)
THINKY新基公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)ARE-312池田屋實(shí)業(yè)THINKY新基公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)ARE-312池田屋實(shí)業(yè)提高攪拌力和消泡力抑制主機(jī)的溫度上升并允許測(cè)量設(shè)備內(nèi)部的溫度通訊功能支持外部設(shè)備的追溯和控制確保符合CE安全標(biāo)準(zhǔn)(EN61010-1:2010+A1:2019)即使是高負(fù)載材料也可以長(zhǎng)期運(yùn)行(最長(zhǎng)運(yùn)行時(shí)間30分鐘)添加震動(dòng)傳感器提高了安全性可以在市售容器或客戶(hù)容器中攪拌(也可以使用ARE-310容器和適配器)適用于注射器和藥膏容器等各種通用容器的適配器。允許您使用帶蓋的一次性容器的適配器適配器可保 -
超聲波探傷儀的應(yīng)用池田屋超聲波探傷儀的應(yīng)用池田屋什么是超聲波探傷儀?超聲波探傷儀是一種利用超聲波來(lái)測(cè)量?jī)?nèi)部缺陷的設(shè)備。無(wú)需切入物體即可檢查內(nèi)部劃痕,作為非破壞性檢查裝置應(yīng)用于各種場(chǎng)所。將超聲波施加到要搜索的物體表面是否有損傷,通過(guò)檢測(cè)從內(nèi)部反射回來(lái)的聲波來(lái)檢測(cè)是否有損傷。不僅可以檢查劃痕的有無(wú),還可以檢查劃痕的位置和大小,用于檢查各種產(chǎn)品制造過(guò)程中的缺陷。超聲波探傷儀的應(yīng)用超聲波探傷儀可以測(cè)量不同位置出現(xiàn)的缺陷。例如,測(cè)量焊接過(guò)程中的缺陷。焊接是一種通過(guò)熔化金屬來(lái)連接零件的方法,是制造工業(yè)產(chǎn)品的
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分光光度計(jì)原理池田屋分光光度計(jì)原理池田屋什么是分光光度計(jì)?分光光度計(jì)是一種能夠?qū)⒐夥殖筛鞣N波長(zhǎng),用分光光照射樣品,并測(cè)量穿過(guò)樣品并反射的光的波長(zhǎng)和量的裝置。分光光度計(jì)是用途廣泛的分析儀器,廣泛應(yīng)用于研發(fā)、質(zhì)量控制和化學(xué)分析等領(lǐng)域。典型的儀器包括真空紫外分光光度計(jì)(VUV)、紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV-Vis)和紅外分光光度計(jì)(IR),它們各自使用不同波長(zhǎng)范圍的光來(lái)產(chǎn)生不同的結(jié)果。分光光度計(jì)原理分光光度計(jì)可以檢測(cè)樣品透射或反射的光并獲得相應(yīng)的光譜。通過(guò)分析這些光譜,可以獲得有關(guān)樣品的各種信息。例如
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日本SENA目視檢查晶圓鹵素?zé)?85/17LA 池田屋
日本SENA目視檢查晶圓鹵素?zé)?85/17LA池田屋日本SENA目視檢查晶圓鹵素?zé)?85/17LA池田屋商品描述日本senalamp高照度目視檢查燈185LE-AL是適合晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等檢查主要型號(hào):高照度照明設(shè)備(表面檢查燈)185LE-AL是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片),觸摸屏制造等行業(yè)。規(guī)格參數(shù):大照度照射距離310mm、照射直徑徑55mmφ時(shí)照度在400,000Lux以上)光源直流點(diǎn)燈17V/185W鹵素?zé)粽斩日{(diào)整連續(xù) -
接地電阻表和絕緣電阻表的區(qū)別池田屋接地電阻表和絕緣電阻表的區(qū)別池田屋什么是接地電阻計(jì)?接地電阻計(jì)是測(cè)量電氣設(shè)備與大地之間電阻的裝置。它是電工和電氣從業(yè)人員熟悉的設(shè)備之一。接地是指將電氣設(shè)備連接到大地。如果電氣設(shè)備出現(xiàn)異常,人接觸就有觸電的危險(xiǎn)。通過(guò)將電氣設(shè)備接地,即使發(fā)生異常,也可以向大地釋放電流。為了電氣設(shè)備的安全,正確接地非常重要。設(shè)備牢固接地的狀態(tài)被稱(chēng)為“接地”。接地電阻儀的使用接地電阻表用于接地工作和電氣設(shè)備檢查。接地工作是指將金屬等導(dǎo)電材料深埋在地下的工作。接地是電工最重要的工作之一,