關(guān)聯(lián)顯微鏡 加速決策蔡司工業(yè)顯微鏡電子行業(yè)解決方案
蔡司能夠提供與電子行業(yè)應(yīng)用相關(guān)的各種顯微鏡產(chǎn)品組合，不同類型的顯微鏡覆蓋了從微米到納米不同尺度的觀察范圍，同時(shí)覆蓋了表面二維以及三維的成像與分析。借助X射線顯微技術(shù)以及FIB 技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)對電子產(chǎn)品從有損到無損的高分辨觀察與分析。在這里，您能獲得一站式的顯微產(chǎn)品解決方案。
低倍大視野下的外觀檢查
更高變倍范圍的外觀檢測
表面超景深高分辨3D成像
金相切片的觀察與測量
表面微納結(jié)構(gòu)三維與粗糙度測量
日常檢測與失效分析(SEM)
低電壓高分辨納米級成像與分析(FESEM)
用于截面制備、透射制樣以及線路修補(bǔ)(FIB）
更快獲取高質(zhì)量橫截面的新方法(Laser-FIB)
無損亞微米級內(nèi)部三維成像
實(shí)驗(yàn)室顯微鏡數(shù)據(jù)的互聯(lián)與共享
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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