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溫濕度振動(dòng)綜合環(huán)境試驗(yàn)箱EMKU愛(ài)沵庫(kù)：·試驗(yàn)箱容積:3375L(W1500mmxD1500mmxH1500mm)。·溫度范圍:-20
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱EMKU愛(ài)沵庫(kù)：·設(shè)有高溫槽,低溫槽,內(nèi)部試驗(yàn)籃將物品在高低溫槽之間移動(dòng),溫度沖擊時(shí)間可設(shè)定,提籃左右移動(dòng)為臥式,上下移動(dòng)為立式...

恒溫恒濕步入式充放電試驗(yàn)室EMKU愛(ài)沵庫(kù)：·試驗(yàn)箱內(nèi)部尺寸:W3000mmxD20mmxH2000mm(尺寸可定制)·溫度范圍:-40
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱（步入式）EMKU愛(ài)沵庫(kù)：·室內(nèi)門(mén)把手安全裝置,室外鎖門(mén)后室內(nèi)也可以開(kāi)門(mén),配置方便推車(chē)進(jìn)出的斜坡。·制冷系統(tǒng)采用無(wú)氟環(huán)保制冷劑...

恒溫恒濕試驗(yàn)箱（分體式）EMKU愛(ài)沵庫(kù)：·控制系統(tǒng)制冷機(jī)組和試驗(yàn)箱分開(kāi),通過(guò)保溫風(fēng)管連接,按客戶(hù)要求定制箱體。·504L,其他尺寸可定制。&...

恒溫恒濕試驗(yàn)箱（二層式）EMKU愛(ài)沵庫(kù)：·兩個(gè)箱體是獨(dú)立的控制系統(tǒng),配置兩個(gè)控制器,兩臺(tái)系統(tǒng)可以單獨(dú)啟停。·可以同時(shí)運(yùn)行兩種不同的測(cè)試條件，...

恒溫恒濕試驗(yàn)箱EMKU愛(ài)沵庫(kù)——ETH系列：·制冷系統(tǒng)采用無(wú)氟環(huán)保制冷劑,壓縮機(jī)等關(guān)鍵部件采用進(jìn)口國(guó)際品牌。·10英寸液晶觸摸控制器,定值和...

日本HBM/MM/閂鎖 半導(dǎo)體靜電測(cè)試儀7000X系列：●7000X-E（專(zhuān)用于ESD試驗(yàn)）●7000X-L（專(zhuān)用于閂鎖試驗(yàn)）●7000X-EL（用于ESD/閂...

日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）●1100-CDM （CDM試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）●1100-...

日本半導(dǎo)體靜電測(cè)試儀陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）●1100-CDM （CDM試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試驗(yàn)...

日本TET靜電ESD測(cè)試儀該系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有：●7000B-E（專(zhuān)用于ESD試驗(yàn)）●7000B-L（專(zhuān)用于閂鎖試驗(yàn)）●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗(yàn)）

日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 CDM測(cè)試儀測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）●1100-CDM （CDM試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）...

日本HBM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試，包括CDM測(cè)試。可應(yīng)用于器件開(kāi)發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。

日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 日本TET靜電測(cè)試儀測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）●1100-CDM （CDM試驗(yàn)專(zhuān)...

HBM、MM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試，包括CDM測(cè)試?？蓱?yīng)用于器件開(kāi)發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。

半導(dǎo)體閂鎖測(cè)試儀7000B產(chǎn)品用途【ESD部-滿(mǎn)足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標(biāo)準(zhǔn)、ESD波形自動(dòng)測(cè)試、對(duì)應(yīng)引腳組合測(cè)試、高達(dá)8kV...

日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試，包括CDM測(cè)試?？蓱?yīng)用于器件開(kāi)發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。

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日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 TET半導(dǎo)體CDM測(cè)試儀陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗(yàn)專(zhuān)用型號(hào)）●1100-CDM （CDM試驗(yàn)專(zhuān)用型...