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進(jìn)行化學(xué)氣相沉積法的一種的裝置——等離子CVD設(shè)備

時(shí)間:2024/7/23閱讀:600
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什么是等離子CVD設(shè)備?

等離子體CVD裝置是進(jìn)行化學(xué)氣相沉積法的一種的裝置。

等離子體CVD是Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition的縮寫(xiě),它將原料氣體轉(zhuǎn)變成低溫等離子體狀態(tài)(正離子和電子電離的輝光放電),產(chǎn)生活性離子和自由基,引起化學(xué)反應(yīng)并沉積材料以形成薄膜。

等離子CVD設(shè)備的應(yīng)用

等離子CVD技術(shù)用于制造切削工具用強(qiáng)化膜(氮化鈦、氮化碳、DLC(英文:Diamond Like Carbon))、半導(dǎo)體用絕緣膜、保護(hù)膜、布線(xiàn)及電極材料(氮化硅、氧化硅、、鎢、多晶硅、化合物半導(dǎo)體等)。它在控制和供應(yīng)能源的高性能功率器件中的應(yīng)用正在迅速擴(kuò)大,這是經(jīng)濟(jì)和工業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵。

供給等離子體CVD裝置的氣體通常為與SiH 6)、WF硅烷(4氫氣、氮?dú)狻?/span>氬氣等載氣。

1. 氧化物

二氧化硅(SiO 2 )是硅的氧化物。它具有優(yōu)異的電絕緣性和熱穩(wěn)定性,用于半導(dǎo)體器件的層間介電膜。

隨著半導(dǎo)體變得越來(lái)越薄,漏電流(即電流從非預(yù)期位置泄漏)變得更有可能發(fā)生。 SiO 2的存在有助于防止漏電流。

2. 氮化物

氮化硅(Si 3 N 4 )是硅的氮化物。它具有優(yōu)異的強(qiáng)度和導(dǎo)熱性,用作產(chǎn)生大量熱量的功率器件的基板材料。

氮?dú)夂桶睔馀cSiH 4一起形成氮化物,因此也可作為原料氣體。一般半導(dǎo)體執(zhí)行與計(jì)算和存儲(chǔ)相關(guān)的功能,例如存儲(chǔ)器。另一方面,功率器件(例如二極管)的用途是。

3、硬質(zhì)合金

碳化硅 (SiC) 是一種碳化硅,與 GaN(氮化鎵)和 AlGaN一樣屬于化合物半導(dǎo)體家族。與Si 3 N 4一樣,它具有優(yōu)異的強(qiáng)度和導(dǎo)熱性,因此代替Si IGBT用于功率器件。

與硅化合物相比,功率損耗更低,從而使設(shè)備更小。

4. 金屬/金屬化合物

晶體管的柵極由柵極氧化物(通過(guò)熱氧化形成)和柵電極(通常是多晶硅)形成。用于柵電極和源極/漏極接觸的鎢塞通過(guò)等離子體CVD形成。 (見(jiàn)圖3)

等離子CVD設(shè)備原理

進(jìn)行化學(xué)氣相沉積法的一種的裝置——等離子CVD設(shè)備

圖1. 等離子體CVD設(shè)備的基本配置

根據(jù)目的,原料氣體條件可以在10 -4 ~100Pa的大范圍的減壓范圍內(nèi)進(jìn)行選擇。等離子體激發(fā)常用的電源頻率是13.56 MHz(RF:射頻),放電形式采用平行板電極電容耦合,如圖1所示。

平行板的一側(cè)可以用作噴頭來(lái)供應(yīng)工藝氣體,或者可以在一側(cè)安裝加熱器來(lái)調(diào)節(jié)溫度。可以控制的參數(shù)有很多,例如電源頻率、平行板型以外的電極結(jié)構(gòu)、原料氣體成分、放電量、溫度等。因此,可以形成具有各種功能的各種薄膜,從無(wú)機(jī)物到有機(jī)物。

有關(guān)等離子 CVD 設(shè)備的其他信息

1.半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)和制造方法

進(jìn)行化學(xué)氣相沉積法的一種的裝置——等離子CVD設(shè)備

圖2. 半導(dǎo)體器件(存儲(chǔ)器)的基本結(jié)構(gòu)

等離子體CDV設(shè)備通常用于制造半導(dǎo)體器件,例如,在存儲(chǔ)器件的情況下,如圖2所示,形成多層復(fù)雜布線(xiàn)層并通過(guò)層間電介質(zhì)分隔。

等離子體CVD設(shè)備主要用于形成MOSFET柵電極、布線(xiàn)層、層間絕緣膜等,但需要在成膜后形成精細(xì)圖案?;旧喜捎糜∷⒓夹g(shù)來(lái)形成圖案,并重復(fù)以下步驟,如圖3所示。

進(jìn)行化學(xué)氣相沉積法的一種的裝置——等離子CVD設(shè)備

圖3. 半導(dǎo)體器件的基本成膜工藝


    1. 新圖案的材料(多晶硅、Al、C、W、SiO 2、Si 3 N 4等)使用CVD 均勻沉積在底層圖案的頂部。

    2. 在步驟 1 中形成的薄膜頂部形成(正性或負(fù)性)光致抗蝕劑薄膜。由于激發(fā)光,正膜變得更難溶于溶劑,而負(fù)膜變得更易溶解。

    3. 抗蝕劑被熔化,并且剩余熔化的抗蝕劑的圖案形成在膜的頂部。

    4. 從圖案的頂部進(jìn)行蝕刻(剝離工藝)以去除薄膜。

    5. 去除抗蝕劑。

    6. 在薄膜上形成圖案。

通過(guò)重復(fù)上述過(guò)程,可以形成如圖2所示的半導(dǎo)體器件。

2.熱敏CDV和光學(xué)CDV

根據(jù)提供的能量不同,可分為等離子體CVD、熱CVD和光學(xué)CVD。

  • 這是通過(guò)在高溫下處理熱CVD
    供給氣體,引起成分的熱分解和化學(xué)反應(yīng) 來(lái)成膜的方法。不能用于塑料等熱敏基材。

  • 一種利用光學(xué) CVD
    激光和紫外線(xiàn)能量 激活化學(xué)分解和化學(xué)反應(yīng)的方法。



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