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高分辨率微納米工業(yè)CT EasyTom XL / 產(chǎn)品概述
測(cè)試特性：尺寸測(cè)量、材料表征、缺陷分析、內(nèi)部結(jié)構(gòu)無損檢測(cè)
適用領(lǐng)域：工業(yè)零部件
可以對(duì)工件進(jìn)行高分辨率內(nèi)部可視化和測(cè)量分析，160KV＆微米焦點(diǎn)230KV雙射線源的步入式機(jī)柜設(shè)計(jì)，可搭載拉伸、壓縮、彎曲和溫度測(cè)試的原位裝置，掃描體積為直徑600mm、高度720mm，分辨率低至0.4μm，適合大尺寸零件。
高分辨率微納米工業(yè)CT EasyTom XL / 產(chǎn)品特點(diǎn)
實(shí)時(shí)高分辨率2D數(shù)字射線成像
提供微米版或納米版以及組合版
體素分辨率低至350mm/體素
功能多樣，適用于各種各樣的應(yīng)用和產(chǎn)品分析
檢測(cè)體積大(直徑x高度:320mmx720mm)
可進(jìn)行原位微CT
可編程自動(dòng)控制循環(huán)
鉛/鋼結(jié)構(gòu)和X射線聯(lián)鎖裝置，設(shè)計(jì)符合X射線規(guī)定
開放式綜合系統(tǒng)，具有可編程自動(dòng)控制循環(huán)
高分辨率微納米工業(yè)CT EasyTom XL / 技術(shù)規(guī)格
軸數(shù) | 4 |
zui大SDD | 610 mm |
掃描體積 | ?180×400mm |
zui大樣品重量 | 5kg |
設(shè)備重量 | 1020kg |
射線源數(shù)量 | 1個(gè) |
外部尺寸 | 1430×900×1870mm(W×D×H) |
輻射安全 | 高級(jí)的 X 射線屏蔽柜集成保護(hù)（設(shè)備表面任何地方的輻射量<0.5µSv/ 小時(shí)） |
軟件 | 所有設(shè)備都由 RX Solutions 自有的 X-Act 軟件控制 |
機(jī)械系統(tǒng) | 高級(jí)光學(xué)蜂窩面包板結(jié)構(gòu)，確保了 CT 掃描的穩(wěn)定性花崗巖底座，確保溫度穩(wěn)定性和良好的阻尼性能 |
平板探測(cè)器（選配） | 像素矩陣1920x1536；像素間距127 µm；尺寸25×20 cm 像素矩陣2048x2560；像素間距124 µm；尺寸32×25 cm |
相機(jī)探測(cè)器（選配） | 像素矩陣4008x2672；像素間距9 µm；尺寸36×24 mm |
X射線管（選配） | 封閉管：zui大電壓110微米；zui大功率16W；zui大分辨率2µm 封閉管：zui大電壓130微米；zui大功率39W；zui大分辨率5µm 封閉管：zui大電壓150微米；zui大功率75W；zui大分辨率5µm |
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