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Spectra ETEM 環(huán)境透射電子顯微鏡相對(duì)于前幾代ETEM平臺(tái)的主要更新如下:

01 遠(yuǎn)程操作平臺(tái)，使科研人員進(jìn)一步免于氣體危害。

02 配備有單色器的超亮熱場(chǎng)場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)珊?jiǎn)便準(zhǔn)確地控制電子劑量。

03 搭配雙球差校正器，進(jìn)一步拓展環(huán)境透射電鏡的表征能力。

04 進(jìn)一步優(yōu)化氣體控制系統(tǒng)，搭配了3個(gè)不同的氣體入口，并可預(yù)設(shè)分壓。

05 極靴內(nèi)無(wú)窗高壓氣氛環(huán)境，可在S/TEM模式提供最佳襯度和分辨率。

06 出色的 ETEM 真空系統(tǒng)與大極靴設(shè)計(jì)，兼容大角度雙傾桿與種類(lèi)豐富的原位樣品桿。

07 非ETEM模式（高真空模式）下可達(dá)到常規(guī)Spectra球差校正平臺(tái)的性能指標(biāo)。

08 兼容各種全新表征硬件與技術(shù):Panther STEM iDPC EMPAD Ceta-S Falcon 4i......

生產(chǎn)合適的材料并做出正確的設(shè)計(jì)選擇對(duì)于解決諸如開(kāi)發(fā)更安全和更持久的電池，創(chuàng)建更輕的材料以提高能效以及構(gòu)建更快，更高容量的計(jì)算機(jī)處理器或存儲(chǔ)設(shè)備等挑戰(zhàn)至關(guān)重要。Spectra非常適合需要在原子水平上表征各種材料的學(xué)術(shù)或工業(yè)實(shí)驗(yàn)室的研究人員。它允許他們制造輕質(zhì)材料，如先進(jìn)鋼，鋁合金或塑料，用于開(kāi)發(fā)更安全或更省油的運(yùn)輸。Spectra還支持新半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和材料的研究，為未來(lái)的高性能電子器件提供必要的構(gòu)建模塊。

Spectra新的檢測(cè)功能，使科學(xué)家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級(jí)數(shù)據(jù)，以滿(mǎn)足更廣泛的應(yīng)用需求。該平臺(tái)可以獲得極其光束敏感的材料和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的詳細(xì)圖像，包括金屬有機(jī)框架，沸石和聚合物，如果暴露在電子束中太長(zhǎng)時(shí)間或在錯(cuò)誤的電壓下可能會(huì)損壞或破壞。它還滿(mǎn)足了使用EDX（能量分散X射線(xiàn)）或EELS（電子能量損失光譜）等多種方式對(duì)大量原子級(jí)化學(xué)分析的不斷增長(zhǎng)的需求。