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X-RAY檢測設(shè)備X-eye SF160F/N Series
  • X-RAY檢測設(shè)備X-eye SF160F/N Series

貨物所在地：上海上海市

更新時間：2024-12-30 21:00:07

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賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現(xiàn)3次
元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series簡介：

1.X-RAY INSPECTION SYSTEM：

搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測設(shè)備，實現(xiàn)高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現(xiàn)3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。


2.X-ray Simple & Easy 3D CT：

1).半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備（大型PCB可進行非破壞性CT分析）
2).可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現(xiàn)產(chǎn)品全檢
3).最大可實現(xiàn)550 x 650mm尺寸的產(chǎn)品不良檢測
4).通過Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D檢測，提供高分辨率，高精度的分析檢測環(huán)境
5).可搭載長壽命Filament，利于用戶使用便利性（可適用于量產(chǎn)檢測）


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     賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series等，歡迎咨詢上海賽可，我們?yōu)槟峁┵惪桑⊿EC）X-RAY檢測設(shè)備 的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備 SF160F/N Series產(chǎn)地為韓國、品牌為賽可，歡迎大家咨詢。


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