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FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測試儀與探針臺配套使用，可實現(xiàn)薄膜的鐵電性能測試。薄膜鐵電性能綜合測試儀的動態(tài)電滯回線測試頻率和激勵測試電源，用戶可根據(jù)需要進行選擇，動態(tài)電滯回線測試頻率范圍為1mHz～500kHz可選，激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可選，也可根據(jù)用戶需要進行定制。

測試功能：

• 動態(tài)電滯回線(DHM)

• I-V特性

• 脈沖(PUND)

• 靜態(tài)電滯回線(SHM)

• 疲勞(FM)

• 漏電流(LM)

• 電流-偏壓

• 保持力(RM)

• 印跡(IM)

可擴展部件：

• 探針臺