陰極發(fā)光顯微鏡的原理說(shuō)明
閱讀:628 發(fā)布時(shí)間:2023-8-11
陰極發(fā)光是由電子束轟擊樣品時(shí)產(chǎn)生的可見(jiàn)光,不同礦物由于含有不同的激活劑元素而產(chǎn)生不同的陰極發(fā)光,用來(lái)激發(fā)并產(chǎn)生陰極發(fā)光的裝置叫做陰極發(fā)光裝置,把這種陰極發(fā)光裝置裝在顯微鏡上則成為陰極發(fā)光顯微鏡。陰極發(fā)光顯微鏡可以廣泛地應(yīng)用于巖石、礦物的鑒定以及成巖作用的研究。
1、電子束從一個(gè)高壓電源加速,通過(guò)一個(gè)真空管道,射向樣品表面。
2、當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生多種現(xiàn)象,包括彈射、散射、吸收、激發(fā)等。
3、其中一部分激發(fā)的電子會(huì)躍遷到低能級(jí),同時(shí)釋放出能量,形成可見(jiàn)光或其他波長(zhǎng)的光子。這就是陰極發(fā)光的過(guò)程。
4、陰極發(fā)光的光子會(huì)被一個(gè)透鏡系統(tǒng)收集,并傳輸?shù)揭粋€(gè)探測(cè)器上,如攝像機(jī)、光譜儀或其他儀器。
5、通過(guò)對(duì)陰極發(fā)光的強(qiáng)度、顏色、分布和波長(zhǎng)等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量和分析,可以獲得樣品的各種信息,如成分、晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、應(yīng)力等。
CLF-2陰極發(fā)光顯微鏡主要用于系統(tǒng)研究方解石、白云石、石英、長(zhǎng)石、硅灰石等礦物的發(fā)光性;礦物的環(huán)帶構(gòu)造及形成機(jī)理;礦物的種類(lèi)及成因鑒別;晶體生長(zhǎng)環(huán)境研究;礦物生長(zhǎng)過(guò)程中的熱事件研究;礦物先后形成的世代研究。