無(wú)錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導(dǎo)體控溫解決方案

主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專(zhuān)?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備，

?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。

【 冠亞制冷 】半導(dǎo)體行業(yè)主營(yíng)控溫產(chǎn)品：

半導(dǎo)體專(zhuān)溫控設(shè)備

射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)

半導(dǎo)體專(zhuān)用溫控設(shè)備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)

Chiller直冷型

循環(huán)風(fēng)控溫裝置

半導(dǎo)體?低溫測(cè)試設(shè)備

電?設(shè)備?溫低溫恒溫測(cè)試?yán)錈嵩?/span>

射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)

快速溫變控溫卡盤(pán)

數(shù)據(jù)中心液冷解決方案

直冷型制冷-40℃ Chiller 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備

直冷型制冷-40℃ Chiller 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備

射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。

是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備。

溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率??？焖伲?50℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；

實(shí)時(shí)監(jiān)控被測(cè)IC真實(shí)溫度,實(shí)現(xiàn)閉環(huán)反饋，實(shí)時(shí)調(diào)整?體溫度升降溫時(shí)間可控，程序化操作、?動(dòng)操作、遠(yuǎn)程控制

測(cè)試條件：環(huán)境溫度20℃，30m3/h，5Bar,壓縮空?或氮?可定制100m3/h?體流量快速?zèng)_擊測(cè)試機(jī)，?于滿(mǎn)?較?測(cè)試功率需求

　　沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)是一種用于測(cè)試半導(dǎo)體器件在不同溫度下的性能表現(xiàn)，這種測(cè)試機(jī)通常被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的生產(chǎn)、研發(fā)和品質(zhì)控制等領(lǐng)域。

　　一、沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)的應(yīng)用

　　1、生產(chǎn)控制

　　在半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中，需要對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試，以確保其性能符合要求。沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)可以模擬不同溫度環(huán)境，從而對(duì)生產(chǎn)出的半導(dǎo)體器件進(jìn)行性能檢測(cè)。

　　2、研發(fā)實(shí)驗(yàn)

　　在研發(fā)階段，沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)可以幫助科研人員在不同溫度環(huán)境下研究半導(dǎo)體的性能表現(xiàn)，進(jìn)一步探索半導(dǎo)體的物理特性和應(yīng)用潛力。

　　3、品質(zhì)控制

　　在品質(zhì)控制環(huán)節(jié)，沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)通過(guò)對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

　　二、沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)的優(yōu)勢(shì)

　　1、溫度范圍廣

　　沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)可以模擬從低溫度到高溫度的環(huán)境，為半導(dǎo)體器件的性能測(cè)試提供了廣闊的溫度范圍。

　　2、測(cè)試精度高

　　沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)具有高精度的溫度控制和測(cè)試系統(tǒng)，能夠準(zhǔn)確記錄和評(píng)估半導(dǎo)體器件在不同溫度下的性能數(shù)據(jù)。

　　3、應(yīng)用范圍廣

沖擊系統(tǒng)快速溫變測(cè)試機(jī)不僅適用于半導(dǎo)體器件的性能測(cè)試，還可以應(yīng)用于其他材料和元器件的性能檢測(cè)。