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目錄:南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司>>失效分析設(shè)備>>ESD測(cè)試設(shè)備>> HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)
  • HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 南京市
屬性

應(yīng)用領(lǐng)域:化工,電氣,綜合

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更新時(shí)間：2024-11-07 12:12:48瀏覽次數(shù)：2024評(píng)價(jià)

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應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電氣,綜合
ESD測(cè)試設(shè)備,ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

 

HED-W5000M


晶圓ESD測(cè)試機(jī) 

l 價(jià)格適中的多功能手動(dòng)晶圓級(jí)測(cè)試儀。

l  專(zhuān)用軟件可用于泄漏測(cè)量和判斷。

l  適用于大多數(shù)類(lèi)型的手動(dòng)探針臺(tái)。 

 

 

Wafer ESD 測(cè)試機(jī)系列

 

Wafer ESD 測(cè)試機(jī) 產(chǎn)品系列

此設(shè)備是可以在Wafer level上進(jìn)行HBM,MM測(cè)試的設(shè)備

產(chǎn)品名/型號(hào) 設(shè)備說(shuō)明 設(shè)備介紹視頻

HED-W5100D
HED-W5100D

全自動(dòng) Wafer ESD測(cè)試機(jī)

從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電

ESD印加后，可根據(jù)漏電流測(cè)試判斷pass/fail

并且可以與ESD測(cè)試有關(guān)聯(lián)性的TLP測(cè)試設(shè)備進(jìn)行組合測(cè)試

對(duì)ESD測(cè)試中發(fā)生問(wèn)題的器件，能有效取得保護(hù)電路中的工作參數(shù)

是滿(mǎn)足日本、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備。（滿(mǎn)足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格）
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HED-W5000M
HED-W5000M

高性能半自動(dòng)Wafer level ESD測(cè)試機(jī)

通過(guò)操作探針座，可以輕松地決定兩個(gè)管腳之間的位置

在印加脈沖后，可以通過(guò)漏電流測(cè)試判斷pass/fail。

  

HED-W5000M-SP0
HED-W5000M-SP0

Low Cost Wafer ESD Tester

低成本、高性能

可通過(guò)開(kāi)放控制軟件構(gòu)建廣泛應(yīng)用程序

  

HED-W5000M-WFC
HED-W5000M-WFC

Wafer level ESD測(cè)試機(jī)

在對(duì)集成電路中保護(hù)電路工作參數(shù)的收集與分析上，雖然TLP測(cè)試機(jī)起到了很大的作用，但是在半導(dǎo)體制程細(xì)微化的發(fā)展中， 為了提高對(duì)ESD的抵抗性，保護(hù)電路需要更快的研發(fā)速度

HED-W5000M-WFC測(cè)試機(jī)，因其可以觀測(cè)到被印加到器件上的實(shí)際的ESD波形，所以有助于收集、分析保護(hù)電路參數(shù)以及縮短研發(fā)速度

  

HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

 

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