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菲希爾代理X射線測厚儀，F(xiàn)ischerscope X-ray XAN500，F(xiàn)ischerscope X-RAY XAN500 是一款可移動使用并且應用廣泛的能...

菲希爾Fischer熒光射線測厚儀，一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。

菲希爾熒光射線測厚儀，由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

TAYLOR HOBSON輪廓儀泰勒，Intra Touch系統(tǒng)具備測量表面粗糙度所需的所有功能，包括所有常用的粗糙度和波紋度參數(shù)、狀誤差分析、去除工具、縮放工...

球輪廓度測量，F(xiàn)TS Intra型粗糙度輪廓儀是英國泰勒霍普森有限公司在標準計量室產(chǎn)品Form Talysurf系列的基礎上開發(fā)的。適用于生產(chǎn)現(xiàn)場和計量室使用。...

美國API激光跟蹤儀RADIAN代理，激光跟蹤儀測量的準確性主要由光束的穩(wěn)定性決定，光路的微小位置變化即可導致較大的系統(tǒng)誤差。這種誤差原始裝配誤差、結(jié)構(gòu)的不穩(wěn)定...

XD LASER美國API代理激光干涉儀，XD Laser激光干涉儀，一次安裝可測得六個參數(shù)（包括x、y、z、俯仰角、偏擺角、滾動角），可實現(xiàn)對多軸加工中心的精...

FISCHERSCOPE XULM-XYM，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。

Fischer測厚儀 熒光射線儀器，菲希爾全新 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 系列不僅更換了全新的設計，性能也顯著提升5...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍...

三豐SJ-401粗糙度儀，配備有符合新iso、din、ansi和jis標準的35種粗糙度測評參數(shù)。一個寬范圍、高分辯率的檢測器和一個直接驅(qū)動元件

SJ-410三豐代理粗糙度，使用收集到的點群數(shù)據(jù)分析表面粗糙度，也可以簡易地進行輪廓形狀解析（階差。階差量。面積。坐標差）。可對在輪廓形狀測機上不能分析的細微形...

SJ-310三豐，高速熱敏打印機(其打印速度約為傳統(tǒng)型號的1.5倍)作為標準件提供。可打印測量結(jié)果(包括判斷結(jié)果)和評定輪廓及BAC和ADC輪廓。支持橫向模式打...

三豐粗糙度儀SJ-201，SJ-201表面粗糙度測量儀為日本Mitutoyo公司生產(chǎn)。該產(chǎn)品測試精度高，操作簡單，性價比高，為市場上熱賣型號。

SJ210，使用裝置 前面和滑動蓋板下方的按鈕可以方便的操作SJ-210表面粗糙度儀

Fischerscope X-ray XAN500菲希爾，XAN 500不僅僅是一個用于大型零件的測量系統(tǒng)。借助可選的測量箱，只需幾個簡單的步驟即可將其轉(zhuǎn)換為臺...

菲希爾XAN310，可用于快速、無損地進行鍍層測厚及材料分析。滿足DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準。作為一款手持式XRF分析儀，常適合在生...

菲希爾XAN250 X熒光射線測厚儀，高性能X射線熒光測量儀，配有非常*的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

Fischerscope X-RAY XAN220，XRAY測厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉(zhuǎn)換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，...

Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀，通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍...