TS3000 Probe System 半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)

? 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV
? 高溫度范圍-60°C至300°C
? 大的靈活性
? 具有特定設(shè)計(jì)的電纜接口的與功能測試儀的小電纜距離，可實(shí)現(xiàn)更好的測量方向性
? 小的卡盤到工作臺面高度可實(shí)現(xiàn)佳mmW和內(nèi)部節(jié)點(diǎn)探測
? 通過在內(nèi)部集成熱系統(tǒng)的冷卻器，將系統(tǒng)占地面積降至低


結(jié)合了MPI的IceFreeEnvironment™，TS3000可以在-60至300°C的寬溫度范圍內(nèi)對300mm的晶片進(jìn)行微型定位器和（或）探針卡測試，并具有在膠片框架上進(jìn)行探測的附加功能。