菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ，菲希爾測厚儀，fischer xdv-µ，可以測量多種參數(shù)。
菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ
菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ
Fischerscope X-RAY XDV-µ特點(diǎn)
同時測量從Al（13）到U（92）的多達(dá)24個元素，XDV-μLD:S（16）-U（92）
Fischerscope X-RAY XDV-µ*的多毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可將X射線束聚焦到10μm（FWHM），用于微結(jié)構(gòu)測量
可編程XY工作臺和模式識別，用于多個樣品的自動測量
擴(kuò)展樣品臺方便樣品的定位
菲希爾x射線測厚儀向?qū)叫?zhǔn)過程
穩(wěn)健設(shè)計(jì)適合長期使用
光學(xué)顯微鏡（放大270倍），顯示圖像和激光定位點(diǎn)，可顯示精確的測量點(diǎn)
無需校準(zhǔn)即可進(jìn)行測量的基本參數(shù)分析
符合IPC-4552A、4553A、4554和4556，ASTM B568，ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)
Fischer的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片可追溯到的基本單位
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀儀器特點(diǎn)
•高級型號儀器，具有常見的所有功能
•射線激發(fā)量的靈活性很大，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
•通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號量下也可以正常工作，而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
•極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
•帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
•大容量便于操作的測量艙
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
•測量極薄的鍍層，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
•痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進(jìn)行檢測
•進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
•光伏產(chǎn)業(yè)
•測量 NiP 鍍層的厚度和成分
