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菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀
  • 菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀

貨物所在地:江蘇無錫市

更新時(shí)間:2024-09-02 09:58:24

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菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀

菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀

菲希爾X-RAY XUV射線熒光測試儀 商品介紹

儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測 器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號計(jì)數(shù)率,使儀器可以達(dá)到極小的重復(fù)精度和極低的測量下限。XUV非常適合測量極薄的鍍層和痕量分析。

菲希爾測厚儀

菲希爾測厚儀采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合,能夠保證每 一次的測量都在佳的條件下完成。在測量的同時(shí),可以直觀地查看測量點(diǎn)的影像。菲希爾測厚儀儀器測量空間寬大,樣品放置便捷,配合可編程的XYZ軸工作臺,既適合測量平面、大型板材類樣品,也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測量分析鍍層 厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置,進(jìn)一步方便了 樣品的快速定位。

基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測量箱所帶來的擴(kuò)展的 測量能力,使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用 于研究和開發(fā),也非常適合過程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。

射線熒光測試儀 商品特點(diǎn)

帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管,可選鎢管和鉬管。高工作條件:

射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y器

準(zhǔn)直器:4個,可自動切換,從直徑0.1mm到

基本濾片:6個,可自動切換

可編程XYZ工作臺

攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置??潭染€經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。

可在真空,空氣或者氦氣的環(huán)境下工作

射線熒光測試儀 商品應(yīng)用

測量輕元素

測量超薄鍍層和痕量分析

常規(guī)金屬分析鑒定

非破壞式寶石分析

太陽能光伏產(chǎn)業(yè)

28 (1)-500x500.JPG



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