Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希爾x射線，菲希爾測厚儀，fischer x射線測厚儀，可以測量多種金屬鍍層
Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希爾x射線
從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確度，精度和可靠性的要求。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希爾x射線
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設計的入門級、耐用型測量儀。
微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計數(shù)率信號，以此造就了高精度的測量。出色的準確性及長期的穩(wěn)定性是FISCHER X射線儀器的共有特點，因此也大大減少了重新校準儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力。
依靠FISCHER所采用的的*基本參數(shù)法，可以在沒有標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品及測量樣品的鍍層厚度。
