輪廓儀

         FTS Intra 既可以通過PDA 控制處理器攜帶到任何工作場合去工作，控制分析單元對驅(qū)動單元可連線控制，也可紅外遙控；也可以通過與電腦的對接，測量的數(shù)據(jù)直接傳輸至計算機，由 Ultra 軟件對儀器進行控制及對測量數(shù)據(jù)的分析。作為標準計量室內(nèi)的檢測設(shè)備。

        我們可以非常容易地把它從計量室?guī)У焦ぷ鞯攸c，即使是臨時的操作員也可以非常簡單地進行操作，并得到測量結(jié)果。當然，由于設(shè)計，簡而易行的操作，您幾乎不用妨礙到生產(chǎn)的進度，就可以完成這些您所需要的表面形狀與粗糙度的檢測。

輪廓儀

[主營產(chǎn)品]fischer膜厚儀,粗糙度儀,激光干涉儀，三維掃描儀

便攜式粗糙度儀輪廓儀圓度儀

Surtronic 25 便攜式粗糙度儀（已停產(chǎn)）車間型精密粗糙度輪廓儀Form Talysurf Intra565/585XL

Surtronic DUO 粗糙度儀全自動光學(xué)輪廓儀PGI DimensionTalyrond 595H

Surtronic S-100系列泰勒霍音森Form Talysurf ilTalyrond 565H

Surtronic S-116泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP Talyrond 400H

Surtronic S-128泰勒霍普森Form Talysurf PGITalyrond 450

Surtronic 3+ / Surtronic 3 Plus（早已停產(chǎn)）光學(xué)輪廓儀Talysurf PGI OpticsSurtronic R100

粗糙度儀配件英國Taylor Hobson PGI Matrix Talyrond 131c

 泰勒LuphoScan 260/420 HDSurtronic R50-R80

 Form Talysurf PGI NOVUSTalyMaster

  Talyrond 130

CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀簡介

CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法，來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測量功能和專業(yè)的厚薄膜測量技術(shù)。

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高。

現(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。