菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY測厚儀

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY測厚儀

德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀介紹：

1、適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。

2、頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。

3、能通過“應(yīng)用工具箱"(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化。

4、畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）

5、圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中

6、對試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm(3.2〞)

菲希爾手持式熒光射線測厚儀XAN500

菲希爾熒光射線測厚儀特點

通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

重量1.9 kg

一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個小時

測量點：3毫米?

高分辨率硅漂移檢測器

用于戶外的IP54等級

用作臺式設(shè)備的可選測量箱；

使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計