產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,印刷包裝,汽車(chē),綜合 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
奧林巴斯NORTEC 600焊接探傷儀無(wú)法制作DAC曲線維修 活塞環(huán),齒圈,軸承內(nèi)外圈,齒輪等環(huán)形工件可采用導(dǎo)磁芯棒進(jìn)行中心導(dǎo)體法檢測(cè)操作簡(jiǎn)單方便易用,自帶退磁功能,功能實(shí)用,通用探傷機(jī)在適用工件類(lèi)型上具有非常廣的范圍,是各中小型零部件制造企業(yè)及質(zhì)檢部門(mén)的機(jī)型,需要注意的是探傷儀用戶(hù)應(yīng)為產(chǎn)品進(jìn)行基本的維護(hù)一些探傷儀維修保養(yǎng)、常見(jiàn)故障排除方法有助于維持良好的儀器物理性能和工況?;谔絺麅x產(chǎn)品的設(shè)計(jì),檢測(cè)儀它只需要最基本的維護(hù)。如果基本的方法無(wú)法排除故障則需要送到專(zhuān)業(yè)的探傷儀維修點(diǎn)由專(zhuān)業(yè)的維修工程師處理。
探傷儀故障現(xiàn)象及維修方法
1、12V供電電池電壓低于10.5V,電池充電即可;
2、大部分的無(wú)法開(kāi)機(jī)主要是薄膜面板的電源開(kāi)關(guān)鍵失去作用引起的,只要更換薄膜面板故障就可以消除;
3、電流大造成,這主要是電源電路中的高壓電容C25、C29、C30擊穿,或者V109、V110振蕩管損壞短路引起;
4、開(kāi)機(jī)電路中的繼電器無(wú)法吸合;
5、電解電容C132漏電,造成開(kāi)機(jī)繼電器無(wú)法吸合;
6、硬關(guān)機(jī)電路中的HC123集成壞造成P.OFF始終處于低電平,儀器始終處于硬關(guān)機(jī)狀態(tài);
7、4NIC-DC10模塊沒(méi)有沒(méi)有輸出;
8、集成CD4011或者開(kāi)關(guān)三極管3904壞造成開(kāi)機(jī)繼電器無(wú)法動(dòng)作。
宏旭探傷機(jī)版權(quán)所有,轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處多功能探傷儀軸棒類(lèi)探傷機(jī)退磁機(jī)探傷中采用交流、直流磁化的區(qū)別探傷機(jī)中探傷擺動(dòng)磁場(chǎng)是什么探傷中的磁化后的初始磁化曲線探傷中鐵磁材料磁疇簡(jiǎn)介及溫度影響渦流探傷儀實(shí)質(zhì)上就是對(duì)被檢試件引起的線圈阻抗變化加以處理,從而對(duì)試件的物理性質(zhì)作出評(píng)價(jià)的過(guò)程。 頻率低則滲透深度大,增加激勵(lì)電流,在深層次效果更好,可以準(zhǔn)確定量的把速度,檢測(cè)深度,靈敏度,相位設(shè)定,激勵(lì)頻率,濾波方式等重要參數(shù)確定下來(lái),具有實(shí)用性,量化成具體數(shù)據(jù),不銹鋼管渦流探傷儀能迅速,方便,直觀的檢測(cè)電導(dǎo)率為0.5-60s/m的各種金屬及石墨等表面的微小裂紋或折疊層。
凌科可維修探傷儀常見(jiàn)故障:開(kāi)機(jī)無(wú)顯示、花屏、顯示亂碼、數(shù)據(jù)丟失、始波異常、檢波異常、不定時(shí)死機(jī)、萬(wàn)能旋鈕失靈、無(wú)回波、自動(dòng)開(kāi)機(jī)、探頭磨損、數(shù)據(jù)不能保存、花屏、死機(jī)、鍵盤(pán)操作失靈等故障
如果對(duì)探傷儀修理完畢,需對(duì)儀器的探傷靈敏度余量、水平線性誤差、垂直線性誤差、動(dòng)態(tài)范圍等幾個(gè)主要性能指標(biāo)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn),以確保儀器正常工作和檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
渦流探傷儀具備高信噪比和高檢測(cè)速度。 便捷式探傷儀是利用鐵磁性材料被磁化后,由于不連續(xù)的存在,使工件表面和表面的磁力線發(fā)生局部畸變而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)(即磁感應(yīng)線離開(kāi)和進(jìn)入表面時(shí)形成的磁場(chǎng))吸附施加在工件表面的,形成在合適光照下目視可見(jiàn)的磁痕,從而顯示出不連續(xù)性的位置。
奧林巴斯NORTEC 600焊接探傷儀無(wú)法制作DAC曲線維修,渦流探傷是由交流電流產(chǎn)生的交變磁場(chǎng)作用于待探傷的導(dǎo)電材料,感應(yīng)出電渦流。 不僅影響有效磁導(dǎo)率(分析參見(jiàn)電導(dǎo)率分析),而且影響填充系數(shù),因此,試件幾何尺寸對(duì)試驗(yàn)線圈阻抗的影響是雙重的,渦流探傷缺陷:缺陷對(duì)試驗(yàn)線圈阻抗的影響可以看作是電導(dǎo)率,幾何尺寸兩個(gè)參數(shù)影響的綜合結(jié)果,由于試件中裂紋位置。 以確定是否存在缺陷,如表面和次表面裂紋,材料的不連續(xù)性和均勻性,半成品和各種材料的成品,按照檢測(cè)線圈的使用方式,可分為線圈式,標(biāo)準(zhǔn)比較線圈式和自比較式等三種型式,只用一個(gè)檢測(cè)線圈稱(chēng)為線圈式,用兩個(gè)檢測(cè)線圈接成差動(dòng)形式。bgcsavgcdgad