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汽車USB檢測設(shè)備東莞科迪冷熱沖擊試驗箱
滿足以下標準:
GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗
GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分:低溫試驗
GJB150.5A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分:溫度沖擊試驗
GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法方法107溫度沖擊試驗
汽車零配件檢測設(shè)備冷熱沖擊試驗箱
技術(shù)指標:
溫度范圍:高溫箱:+60℃~200℃;低溫箱:0℃~-70℃;
溫度波動度:±0.5℃;
溫度均勻:±2℃;
升溫速率:≤5℃/min;(全程平均)
降溫速率:≤5℃/min;;(全程平均)
預(yù)冷下限溫度:≤-70℃;
沖擊溫度:+150~-60℃;
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復(fù)時間:5min;
樣品架轉(zhuǎn)換時間:≤8s;
沖擊方式:上下移動提籃式或翻板式
電源:380V±10﹪50Hz
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