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光焱科技最新推出PD-QE測(cè)試系統(tǒng)，針對(duì)第三代半導(dǎo)體材料Photodiode/Photodetector的相關(guān)特性測(cè)試，整合最新高精密直流可耐電壓偵測(cè)技術(shù)，與傳統(tǒng)交流模式下測(cè)量EQE使用鎖相放大器、電壓無(wú)法加過(guò)12V相比，該系統(tǒng)最高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達(dá)0.1fA，可滿足客戶多種量測(cè)需求。

1. 使用均勻光斑的"照度模式" (Irradiance Mode) 符合ASTM E1021；
   

2. 取代傳統(tǒng)聚焦小光斑，可以測(cè)試um等級(jí)的光電傳感器；
   

3. 均勻光斑可以克服色散差與像差的問(wèn)題，可準(zhǔn)確測(cè)得EQE曲線；
   

4. 可搭配多種探針臺(tái)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測(cè)試；
   

5. 集成的光學(xué)與測(cè)試系統(tǒng)，提高系統(tǒng)搭建效率；
   

6. 一鍵式自動(dòng)化測(cè)試軟件，自動(dòng)全光譜校正與測(cè)量，工作效率高。
   

• 外部量子效率EQE

• 光譜響應(yīng)SR

• I-V曲線測(cè)量

• NEP光譜測(cè)量

• D*光譜測(cè)量

• Noise-current-frequency響應(yīng)圖 (A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz)

• Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析